公开(公告)号：CN108228373A

公开(公告)日：2018-06-29

申请号：CN201711429672.4

申请日：2017-12-26

Applicant: 中国信息通信研究院

Inventor： 魏凡星 ,  毕子祥 ,  傅山 ,  王嘉义

IPC: G06F11/07

Abstract: 本发明提供了一种芯片故障注入检测设备及方法，其中，该设备包括：控制装置，用于在故障注入检测过程中，接收到待测芯片热启动失败的反馈结果时，发送冷启动指令至故障注入装置；故障注入装置，用于根据所述冷启动指令，驱动所述冷启动装置启动，产生冷启动触发控制信号，将冷启动触发控制信号发送至冷启动装置；冷启动装置，与所述故障注入装置和待测芯片连接，用于根据所述冷启动触发控制信号，驱动待测芯片冷启动。上述技术方案实现了在故障注入检测过程中待测芯片热启动失败时，可自动重启待测芯片，降低了芯片故障注入检测的人工工作量，节约芯片故障注入检测的人力成本，提高了芯片故障注入检测的效率。

公开(公告)号：CN108228373B

公开(公告)日：2021-05-25

申请号：CN201711429672.4

申请日：2017-12-26

Applicant: 中国信息通信研究院

Inventor： 魏凡星 ,  毕子祥 ,  傅山 ,  王嘉义

IPC: G06F11/07

Abstract: 本发明提供了一种芯片故障注入检测设备及方法，其中，该设备包括：控制装置，用于在故障注入检测过程中，接收到待测芯片热启动失败的反馈结果时，发送冷启动指令至故障注入装置；故障注入装置，用于根据所述冷启动指令，驱动所述冷启动装置启动，产生冷启动触发控制信号，将冷启动触发控制信号发送至冷启动装置；冷启动装置，与所述故障注入装置和待测芯片连接，用于根据所述冷启动触发控制信号，驱动待测芯片冷启动。上述技术方案实现了在故障注入检测过程中待测芯片热启动失败时，可自动重启待测芯片，降低了芯片故障注入检测的人工工作量，节约芯片故障注入检测的人力成本，提高了芯片故障注入检测的效率。