用于测试的方法及装置、电子设备、存储介质

    公开(公告)号:CN117215892A

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202311205608.3

    申请日:2023-09-18

    Abstract: 本申请涉及测试技术领域,公开一种用于测试的方法,包括:获取实验计划。实验计划包括多个目标测试项目、各目标测试项目对应的故障场景、待测系统和测试顺序。按照测试顺序利用各目标测试项目对应的故障场景对待测系统进行测试,获得各目标测试项目对应的测试结果。根据各测试结果确定待测系统的性能。通过先获取多个目标测试项目、各目标测试项目对应的故障场景、待测系统和测试顺序。然后按照测试顺序利用不同的故障场景对待测系统进行测试。能够了解不同故障场景下系统的运行情况,从而确定待测系统的性能。本申请还公开一种用于测试的装置、电子设备、存储介质。

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