一种矩形均匀片光源调试方法及装置

    公开(公告)号:CN115165089B

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN202210926363.2

    申请日:2022-08-03

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明提供了一种矩形均匀片光源调试方法及装置,通过密布传感器单元的探测表面来探测子激光器的光功率,将单个或多个子激光器在探测表面照亮的椭圆形区域转化成相应的具有相对宽度、长度的长方形,并根据照亮区域所吸收的热量划分多个子功率区域,每个子功率区域显示平均功率,平均功率用数字和不同颜色的块状区域表示,通过所显示的数字和颜色对子激光器及光学系统进行调节。本发明可以人性化地显示单个或多个子激光器在探测表面照亮区域的相对宽度、长度和功率,提升了操作人员在光源调节过程种的便捷性,实现了矩形片光源均匀度的快速调节。

    一种矩形均匀片光源调试方法及装置

    公开(公告)号:CN115165089A

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202210926363.2

    申请日:2022-08-03

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明提供了一种矩形均匀片光源调试方法及装置,通过密布传感器单元的探测表面来探测子激光器的光功率,将单个或多个子激光器在探测表面照亮的椭圆形区域转化成相应的具有相对宽度、长度的长方形,并根据照亮区域所吸收的热量划分多个子功率区域,每个子功率区域显示平均功率,平均功率用数字和不同颜色的块状区域表示,通过所显示的数字和颜色对子激光器及光学系统进行调节。本发明可以人性化地显示单个或多个子激光器在探测表面照亮区域的相对宽度、长度和功率,提升了操作人员在光源调节过程种的便捷性,实现了矩形片光源均匀度的快速调节。

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