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公开(公告)号：CN118209842A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410328005.0
申请日：2024-03-21
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于RF射频夹具技术领域，具体涉及一种用于多种芯片测试的RF射频夹具的自动去嵌入方法，采用AFR算法与TDR结合的时域频域混合的去嵌入方法，AFR对比其他传统去嵌入方法而言，在保证测量准确度的前提下，减少了测量次数，提高了射频芯片参数的测量效率，降低了射频芯片测试成本。RF射频夹具是放置在PCB板上用来固定并测试芯片和各种元器件的夹具；该夹具用于测试可通过频率高达44GHz的射频芯片ADRF5024的性能，例如插入损耗、回波损耗和驻波比等参数。夹具测试避免其Pad损坏，提高了测试芯片的重复利用性，使得芯片便于快速取放。
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