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公开(公告)号：CN108508385A
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201810182893.4
申请日：2018-03-06
Applicant: 东南大学
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种用于测量仪器的高精度、低器件成本的自动校正方法。通过选择精度较高的源作为基准(可以选择系统内部或外部的源)，利用软件自校正自动对电路系统的输入输出通路中的多级增益电路的关键误差源进行测量，并在系统的FLASH中写入校正表，然后利用校正表可以完成对电路系统输入输出通路的关键参数校正，从而消除由于器件本身指标较差带来的精度上的影响。该方案能够修正电路系统器件在直流偏置点、增益、程控衰减等参数上的误差。本发明通过软件自校正的方式，在低成本器件设计下，能够很大程度提高电路系统输入输出结果的精度。
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