一种基于随机点跟踪的金属材料断裂伸长率智能测试方法

    公开(公告)号:CN103471910B

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201310375963.5

    申请日:2013-08-26

    Applicant: 东华大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于随机点跟踪的金属材料断裂伸长率智能测试方法,在测试前先采用喷漆设备先在被检测金属材料表面上喷上大小、形状不规则的随机点作为标记。在测试过程中,利用机器视觉系统获取被测材料表面形变的图像序列,然后根据断裂位置和预先设定的局部伸长率,自动选择计算金属材料断裂伸长率的最佳原始标距和断后标距,精确地计算出金属材料的断裂伸长率。采用本发明所提出的方法,不仅能提高金属材料断裂伸长率检测精度,还能自动地分析和计算不同局部伸长率及材料在拉伸过程中的变形趋势,为材料检测和产品设计提供科学的依据。

    一种基于图像识别的地铁防逃票系统及其工作方法

    公开(公告)号:CN103605967A

    公开(公告)日:2014-02-26

    申请号:CN201310611194.4

    申请日:2013-11-26

    Applicant: 东华大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于图像识别的地铁防逃票系统,其特征在于,包括刷卡信息适配器、成像装置,刷卡信息适配器、成像装置均与嵌入式中央处理模块连接,嵌入式中央处理模块还与报警装置、开关门控制装置连接,刷卡信息适配器连接进站刷卡系统的信号端口。本发明在现有的闸道自动检票系统基础上,加装机器视觉系统和刷卡信息适配器,由嵌入式信号处理系统实时获取当前检测区人数及检测区的人数替换信息,并通过比较刷卡人数计数器与检测区人数计数器的计数值,判断逃票现象,控制闸口的开启和报警。

    一种基于随机点跟踪的金属材料断裂伸长率智能测试方法

    公开(公告)号:CN103471910A

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201310375963.5

    申请日:2013-08-26

    Applicant: 东华大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于随机点跟踪的金属材料断裂伸长率智能测试方法,在测试前先采用喷漆设备先在被检测金属材料表面上喷上大小、形状不规则的随机点作为标记。在测试过程中,利用机器视觉系统获取被测材料表面形变的图像序列,然后根据断裂位置和预先设定的局部伸长率,自动选择计算金属材料断裂伸长率的最佳原始标距和断后标距,精确地计算出金属材料的断裂伸长率。采用本发明所提出的方法,不仅能提高金属材料断裂伸长率检测精度,还能自动地分析和计算不同局部伸长率及材料在拉伸过程中的变形趋势,为材料检测和产品设计提供科学的依据。

    一种照明衍射光学元件几何技术参数检测装置与方法

    公开(公告)号:CN103389037B

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201310294420.0

    申请日:2013-07-12

    Applicant: 东华大学

    Abstract: 本发明涉及一种照明衍射光学元件几何技术参数检测装置与方法,包括计算机系统、电控系统和成像系统,计算机系统包括计算机和显示器,电控系统包括控制器、电机和电控载物台,成像系统包括光盾、LED光源、镜头和图像传感器,显示器与计算机连接成一体,计算机分别连接控制器和图像传感器,控制器连接控制电机,电机的输出轴上水平布置有电控载物台,电控载物台正对上方设有光盾,光盾上端的圆周内壁上设有LED光源,光盾顶部中间设有图像传感器,图像传感器的镜头正对下方的电控载物台且位于LED光源的上端之间。本发明可实现对照明衍射光学元件几何技术参数高精度、快速检测,为产品的制造与使用提供科学的依据。

    一种照明衍射光学元件几何技术参数检测装置与方法

    公开(公告)号:CN103389037A

    公开(公告)日:2013-11-13

    申请号:CN201310294420.0

    申请日:2013-07-12

    Applicant: 东华大学

    Abstract: 本发明涉及一种照明衍射光学元件几何技术参数检测装置与方法,包括计算机系统、电控系统和成像系统,计算机系统包括计算机和显示器,电控系统包括控制器、电机和电控载物台,成像系统包括光盾、LED光源、镜头和图像传感器,显示器与计算机连接成一体,计算机分别连接控制器和图像传感器,控制器连接控制电机,电机的输出轴上水平布置有电控载物台,电控载物台正对上方设有光盾,光盾上端的圆周内壁上设有LED光源,光盾顶部中间设有图像传感器,图像传感器的镜头正对下方的电控载物台且位于LED光源的上端之间。本发明可实现对照明衍射光学元件几何技术参数高精度、快速检测,为产品的制造与使用提供科学的依据。

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