干涉型光纤传感器的相位测量方法及装置

    公开(公告)号:CN107314823A

    公开(公告)日:2017-11-03

    申请号:CN201710480459.X

    申请日:2017-06-22

    CPC classification number: G01J9/02 G01J2009/0226 G01J2009/0242

    Abstract: 本发明公开了一种干涉型光纤传感器的相位测量方法及装置,涉及利用双波长3×3耦合器进行干涉型光纤传感器的相位检测技术领域。所述方法包括:利用两种不同波长的光源获得干涉型光纤传感器的两组干涉信号,对两个不同波长的干涉信号进行相位解调得到其对应的卷绕相位,然后通过双波长干涉原理求解出等效波长的相位,最后利用等效波长的相位对发生卷绕的相位进行补偿,得到所述光纤传感器所测量的真实相位。所述方法通过对卷绕的相位进行补偿,得到一定范围内真实相位的测量值,部分消除了传统干涉型光纤传感器存在的问题,提高了相位测量的范围及准确性。

    干涉型光纤传感器的相位测量方法及装置

    公开(公告)号:CN107314823B

    公开(公告)日:2019-04-02

    申请号:CN201710480459.X

    申请日:2017-06-22

    Abstract: 本发明公开了一种干涉型光纤传感器的相位测量方法及装置,涉及利用双波长3×3耦合器进行干涉型光纤传感器的相位检测技术领域。所述方法包括:利用两种不同波长的光源获得干涉型光纤传感器的两组干涉信号,对两个不同波长的干涉信号进行相位解调得到其对应的卷绕相位,然后通过双波长干涉原理求解出等效波长的相位,最后利用等效波长的相位对发生卷绕的相位进行补偿,得到所述光纤传感器所测量的真实相位。所述方法通过对卷绕的相位进行补偿,得到一定范围内真实相位的测量值,部分消除了传统干涉型光纤传感器存在的问题,提高了相位测量的范围及准确性。

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