公开(公告)号：CN104777050B

公开(公告)日：2017-06-20

申请号：CN201510184666.1

申请日：2015-04-17

Applicant: 东北大学

Inventor： 李建昌 ,  栾勇 ,  赵思琦 ,  孙飞

IPC: G01N3/38

Abstract: 本发明提供一种阻变薄膜低温弯扭测试仪及测试方法，该测试仪包括：对阻变薄膜进行可调节角度的弯曲和扭曲的弯扭装置；控制弯扭装置的弯扭次数、弯扭速度、弯曲程度、扭转角度并测量阻变薄膜在弯扭测试过程中的伏安特性曲线的测控系统；根据测控系统的控制指令为阻变薄膜提供弯扭测试所需低温环境的低温系统；本发明的测试仪及测试方法能同时或分别实现弯曲和扭曲实验，且能适应不同长度、宽度的试验样品，结构简单，操作方便；可调节弯曲、扭曲的角度，实现不同程度的弯扭实验，可应用于各种柔性薄膜，尤其是满足低温下对于阻变薄膜的疲劳性检测，以满足相应电子器件投入应用前的寿命的估测，保证产品的质量的测试仪器。

公开(公告)号：CN104777050A

公开(公告)日：2015-07-15

申请号：CN201510184666.1

申请日：2015-04-17

Applicant: 东北大学

Inventor： 李建昌 ,  栾勇 ,  赵思琦 ,  孙飞

IPC: G01N3/38

Abstract: 本发明提供一种阻变薄膜低温弯扭测试仪及测试方法，该测试仪包括：对阻变薄膜进行可调节角度的弯曲和扭曲的弯扭装置；控制弯扭装置的弯扭次数、弯扭速度、弯曲程度、扭转角度并测量阻变薄膜在弯扭测试过程中的伏安特性曲线的测控系统；根据测控系统的控制指令为阻变薄膜提供弯扭测试所需低温环境的低温系统；本发明的测试仪及测试方法能同时或分别实现弯曲和扭曲实验，且能适应不同长度、宽度的试验样品，结构简单，操作方便；可调节弯曲、扭曲的角度，实现不同程度的弯扭实验，可应用于各种柔性薄膜，尤其是满足低温下对于阻变薄膜的疲劳性检测，以满足相应电子器件投入应用前的寿命的估测，保证产品的质量的测试仪器。