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发明公开
一种基于四向伪帧差正值化的ACF粒子个数检测处理方法审中-实审

公开(公告)号：CN115631144A

公开(公告)日：2023-01-20

申请号：CN202211220398.0

申请日：2022-10-05

Applicant: 东北大学

Inventor： 王浩 , 史元浩 , 薛润行 , 卜明辉 , 梁骏骁 , 梅付坤 , 魏颖

IPC: G06T7/00 , G06T7/11

Abstract: 为了克服现有TFT‑LCD面板ACF导电粒子检测方法存在的高效性和可靠性无法兼顾的技术难题，本发明提供了一种基于四向伪帧差的ACF粒子个数检测处理方法。在对TFT‑LCD图像中ACF导电粒子进行识别前置的处理部分，通过建立多个平面图像增广矩阵，利用四个平面图像增广矩阵进行多次增减行列以及五次矩阵加减操作完成原图像的四向伪帧差，实现了各像素点与其4邻域内像素点的灰度梯度差值放大，建立了一种新型高效的四向伪帧差检测处理方法，解决了TFT‑LCD面板ACF粒子检测高效性和可靠性无法兼得的技术难题。

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