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发明公开
板料刻痕特征无损高精密测量装置无效

公开(公告)号：CN103453838A

公开(公告)日：2013-12-18

申请号：CN201210183606.4

申请日：2012-06-05

Applicant: 上海航天设备制造总厂

Inventor： 陈长江 , 杨国舜 , 郭立杰 , 尤登飞 , 陆彬 , 陈军

IPC: G01B11/06 , G01B11/24 , G01B11/22

Abstract: 本发明涉及一种板料刻痕特征无损高精密测量装置，包括：支架、二维滑台、第一传感器、转台组件、单向滑台、滑块、导轨、第二感器、锁扣和托架，第一传感器通过二维滑台连接至支架侧面框架上；导轨与支架的底面框架连接，单向滑台通过滑块和锁扣与导轨连接，转台组件与单向滑台连接；第二传感器通过托架与支架连接，且设置在单向滑台下方。本发明具有结构简单、操作方便、提高膜片生产率、降低膜片生产成本的优点。

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