一种超宽频段多通道准光学馈电网络设计方法及系统

    公开(公告)号:CN116644546A

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202310708261.8

    申请日:2023-06-15

    Abstract: 本发明公开了一种超宽频段多通道准光学馈电网络设计方法及系统,包括:依据静止轨道微波辐射计将天线馈电波束宽度参数转换为对应频段高斯波束束腰半径,用作准光馈电网络输入参数;根据准光学馈电网络插入损耗指标,采用极化栅网进行异极化通道分离;采用共用椭球面反射镜汇聚波束,减小准光学馈电网络器件尺寸;增加折层椭球面反射镜或者平面反射镜对部分通道折层布局成双层紧凑型准光学馈电网络;对多通道共用椭球面反射镜参数进行优化以降低通道波束畸变;完成准光学馈电网络与天线反射面联合仿真,对所有频段主波束效率进行评估,判断所述主波束效率是否优于预设目标值,实现超宽频段多通道准光学馈电网络的优化。

    一种准光学器件辐射性能评估装置及方法

    公开(公告)号:CN116222760A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310391794.8

    申请日:2023-04-13

    Abstract: 本发明提供了一种准光学器件辐射性能评估装置及方法,其装置包括信号发射组件和信号接收组件,其方法包括产生的高斯波束信号以预设入射角向被测器件传播;传播至被测器件的高斯波束信号一部分被被测器件反射出去,另一部分透射出被测器件;分别接收反射出去的高斯波束信号和透射出的高斯波束信号,并分别获取反射辐射场数据和透射辐射场数据;求取被测器件的传输辐射性能影响因数和反射辐射性能影响因数。本发明通过高斯波束信号经过被测器件进行透射和反射,对透射和反射的高斯波束信号进行采集,将测试场数据与标准场数据进行相关性分析计算,通过电磁场的耦合系数计算分析辐射性能影响因数,具有简单易执行、计算快捷、普适性强的技术效果。

    一种辐射计天线微波发射率测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN115542025A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202211163474.9

    申请日:2022-09-23

    Abstract: 本发明公开了一种辐射计天线微波发射率测试装置,包括:第一级联热控涂层试片、第二级联热控涂层试片、真空高温辐射源、真空低温辐射源、真空变温辐射源、接收组件、位置控制机构和控温仪,所述第一级联热控涂层试片和第二级联热控涂层试片设置于所述控温仪内部,所述接收组件设置于所述位置控制机构上,所述位置控制机构控制所述接收组件周期性的到达预定位置以分时接收所述真空高温辐射源、所述真空低温辐射源、所述真空变温辐射源发射的信号,其中,所述真空变温辐射源发射的信号包括经过和不经过所述第一级联热控涂层试片和第二级联热控涂层试片的信号。通过误差修正,精确获取级联热控涂层试片发射率。

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