公开(公告)号：CN115542025A

公开(公告)日：2022-12-30

申请号：CN202211163474.9

申请日：2022-09-23

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 李向芹 ,  谢振超 ,  栾英宏 ,  何嘉凯 ,  龙澄 ,  葛如飞 ,  李雪 ,  吴涛 ,  邙晓斌 ,  王芸 ,  杨永键 ,  于雨

IPC: G01R29/10 ,  G01R35/00

Abstract: 本发明公开了一种辐射计天线微波发射率测试装置，包括：第一级联热控涂层试片、第二级联热控涂层试片、真空高温辐射源、真空低温辐射源、真空变温辐射源、接收组件、位置控制机构和控温仪，所述第一级联热控涂层试片和第二级联热控涂层试片设置于所述控温仪内部，所述接收组件设置于所述位置控制机构上，所述位置控制机构控制所述接收组件周期性的到达预定位置以分时接收所述真空高温辐射源、所述真空低温辐射源、所述真空变温辐射源发射的信号，其中，所述真空变温辐射源发射的信号包括经过和不经过所述第一级联热控涂层试片和第二级联热控涂层试片的信号。通过误差修正，精确获取级联热控涂层试片发射率。

公开(公告)号：CN115542222A

公开(公告)日：2022-12-30

申请号：CN202211155180.1

申请日：2022-09-22

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 李向芹 ,  谢振超 ,  吴涛 ,  于雨 ,  李雪 ,  杨永键 ,  李贝贝 ,  王芸

IPC: G01R35/00 ,  G01R29/10

Abstract: 本发明公开了一种静止轨道微波辐射计天线发射率在轨标定方法，包括：根据所述微波辐射计天线三个反射面的传输方程计算天线级联反射面传输方程；根据馈电口面两点定标方程和所述天线级联反射面传输方程，获取天线级联链路微波损耗方程；采用天线温控系统，分别将天线三个反射面同时刻温度梯度控制到目标值，采用温控系统获取两组天线反射面温度状态对应的线级联损耗基于天线级联链路微波损耗方程和物理温度对应谱功率密度公式，计算天线三个反射面表面反射率与工作表面温度函数关系参数。实现天线自辐射在轨实时校正，微波辐射计在轨进行全冷空观测，精确获取天线反射率及其随温度变化函数。

公开(公告)号：CN103576128A

公开(公告)日：2014-02-12

申请号：CN201210276466.5

申请日：2012-08-06

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 刘高峰 ,  陈卫英 ,  俞伟敏 ,  翁艺航 ,  潘莉 ,  王芸 ,  黄理勇 ,  王龙

IPC: G01S7/40 ,  G01S13/89

CPC classification number: G01S7/40 ,  G01S13/89

Abstract: 本发明公开了一种微波成像仪地面真空定标装置及方法，本发明所提供的微波成像仪地面真空定标装置，包括：真空定标转台，安装于所述真空定标转台的真空定标温控仪，所述真空定标转台带动真空定标温控仪转动；围绕所述真空定标转台设置的热定标源、冷定标源、变温定标源，所述热定标源、冷定标源、变温定标源的辐射发射窗口与所述真空定标温控仪的辐射接收窗口等高。本发明解决了微波成像仪无法进行整机真空定标的难题，并且经FY-3A和FY-3B星在轨验证，地面真空定标的数据完全符合在轨应用的要求。本发明设计简单，实现容易，并具有一定的通用性，可广泛应用于各类星载微波成像仪真空定标系统中。

公开(公告)号：CN116593003A

公开(公告)日：2023-08-15

申请号：CN202310549248.2

申请日：2023-05-16

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 谢振超 ,  李向芹 ,  李雪 ,  邙晓斌 ,  吴涛 ,  杨永键 ,  李贝贝 ,  于雨 ,  瞿浩 ,  王芸

IPC: G01J5/00 ,  G01J5/90

Abstract: 本发明公开了一种静止轨道微波辐射计天线发射率地面标定方法，包括：常温常压环境下采用谐振腔测试设备完成大口径天线反射面表面不同入射角度下的发射率测试；在真空环境内，将天线反射面物理温度控制到前一步骤状态，采用标准微波辐射计测量反射面自辐射；计算标准辐射计在反射面不同位置处的归一化照射功率，将天线物理温度测量值、常温常压发射率测量值与归一化照射功率加权计算反射面自辐射，并与上一步骤中的自辐射测量值进行比对分析，验证天线发射率测试值正确性；将天线反射面整体加温，测试不同温度状态下的自辐射量，计算天线表面发射率随温度的变化曲线，使得微波辐射计天线发射率测试的测试数据精确、计算简单、数据高效。