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发明公开
一种测试系统、控制矩阵开关的方法及存储介质有权

公开(公告)号：CN111025046A

公开(公告)日：2020-04-17

申请号：CN201911164484.2

申请日：2019-11-25

Applicant: 上海科梁信息工程股份有限公司

Inventor： 陈红涛 , 曹文天 , 杨巍 , 邹毅军

IPC: G01R31/00 , G05B19/042

Abstract: 本发明实施例涉及自动化测试领域，公开了一种测试系统、控制矩阵开关的方法及存储介质。本发明中的测试系统，包括：控制模块、仿真模块和配线管理模块，多个待测设备与配线管理模块中各自对应的矩阵开关电气连接；控制模块用于构建指定的待测设备所对应的矩阵开关的矩阵构型，将矩阵构型发送至配线管理模块；配线管理模块用于根据接收的矩阵构型，开启指定的待测设备所对应的矩阵开关，以使指定的待测设备与仿真模块电气连接；仿真模块用于为指定的待测设备提供测试信号，采集指定的待测设备产生的反馈数据；根据反馈数据，确定指定的待测设备的检测数据。本实施方式，使得可以灵活对待测设备进行测试，提高测试效率。

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