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公开(公告)号：CN109633578B
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN201811466632.1
申请日：2018-12-03
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01S7/40
Abstract: 本发明是一种双通道高精度相位标校系统，其特征包含：定标信号源、内定标组件、模拟接收机、ADC信号采集与信号处理系统；所述定标信号源输出两路定标信号注入所述内定标组件中，内定标组件输出两路校准信号通过电缆传给所述模拟接收机；所述模拟接收机将接收的信号传给ADC信号采集与信号处理系统进行处理，获取两路信号的总相位差；同时模拟接收机将部分接收的信号沿原路返回到内定标组件，内定标组件将返回的信号再传给ADC信号采集与信号处理系统，提取电缆本身的相位差。本发明提出一种双通道高精度相位标校方法，对多接收链路之间的相位误差进行标校，并同时消除连接电缆的相位误差，标校精度可达0.07°。
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公开(公告)号：CN109633573B
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN201811242372.X
申请日：2018-10-24
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01S7/40
Abstract: 本发明提供一种对大幅宽范围内湿对流层延时误差的校正方法，包含以下过程：在宽幅干涉成像高度计上安装微波辐射计，确保两者所发信号同时、同视角、同路径；微波辐射计产生三种频率的信号：18GHz、22.235GHz、37GHz；根据临近22.235GHz水汽线的亮温值计算水汽路径延迟，通过18Ghz和37Ghz通道分别剔除风速和云的影响；采用统计回归的方法，求得湿对流层产生的路径延迟值。本发明提出的宽幅干涉成像高度计同时、同视角、同路径的水汽校正辐射计，可对大幅度范围内湿对流层误差进行校正，保证宽幅干涉成像高度计测高工作顺利进行。
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公开(公告)号：CN112014838A
公开(公告)日：2020-12-01
申请号：CN202010922982.5
申请日：2020-09-04
Applicant: 上海无线电设备研究所
Abstract: 本发明公开了一种一体化设计的高度计辐射计系统，包括：天馈子系统，其用于实现高度计及辐射计射频信号的发射和接收；与天馈子系统连接的高度计，所述高度计采用Ku+Ka双频高度计；与天馈子系统连接的辐射计，所述辐射计采用Ku+K+Ka三频辐射计；时序与信息处理单元，其用于根据高度计及辐射计的回波信号同时完成所述高度计的测高功能和所述辐射计的测量功能。本发明的采用双频高度计与三频辐射计一体化设计，提高了测量精度的同时降低了系统的总重量及总功耗，此外，本发明的高度计与辐射计由同一时序与信息处理单元控制信号同步，可以有效避免高度计发射信号对辐射计接收信号的干扰，避免了分开设计带来的天线副瓣泄露的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109633578A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811466632.1
申请日：2018-12-03
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01S7/40
Abstract: 本发明是一种双通道高精度相位标校系统，其特征包含：定标信号源、内定标组件、模拟接收机、ADC信号采集与信号处理系统；所述定标信号源输出两路定标信号注入所述内定标组件中，内定标组件输出两路校准信号通过电缆传给所述模拟接收机；所述模拟接收机将接收的信号传给ADC信号采集与信号处理系统进行处理，获取两路信号的总相位差；同时模拟接收机将部分接收的信号沿原路返回到内定标组件，内定标组件将返回的信号再传给ADC信号采集与信号处理系统，提取电缆本身的相位差。本发明提出一种双通道高精度相位标校方法，对多接收链路之间的相位误差进行标校，并同时消除连接电缆的相位误差，标校精度可达0.07°。
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公开(公告)号：CN113702932A
公开(公告)日：2021-11-26
申请号：CN202110994492.0
申请日：2021-08-27
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01S7/40
Abstract: 本发明公开一种测高雷达校准系统，应用于双天线测高雷达中，双天线测高雷达包括射频收发模块、与射频收发模块连接的信号调节模块及与信号调节模块连接的双通道天线；包括：相位校准模块，分别与射频收发模块和双通道天线进行连接，用于对射频收发模块、信号调节模块和双通道天线形成的发射链路和接收链路进行相位校准，以得到校准回波信号；信号处理平台，分别与相位校准模块和信号调节模块进行连接，用于根据校准回波信号得到发射链路和所述接收链路的相位差，以对发射链路中的信号和接收链路接收的信号进行相位补偿。本发明实现了对双天线测高雷达的发射链路和接收链路的相位校准及补偿，可以提高双天线测高雷达的测量分辨率和测高精度。
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公开(公告)号：CN109633573A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811242372.X
申请日：2018-10-24
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01S7/40
Abstract: 本发明提供一种对大幅宽范围内湿对流层延时误差的校正方法，包含以下过程：在宽幅干涉成像高度计上安装微波辐射计，确保两者所发信号同时、同视角、同路径；微波辐射计产生三种频率的信号：18GHz、22.235GHz、37GHz；根据临近22.235GHz水汽线的亮温值计算水汽路径延迟，通过18Ghz和37Ghz通道分别剔除风速和云的影响；采用统计回归的方法，求得湿对流层产生的路径延迟值。本发明提出的宽幅干涉成像高度计同时、同视角、同路径的水汽校正辐射计，可对大幅度范围内湿对流层误差进行校正，保证宽幅干涉成像高度计测高工作顺利进行。
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公开(公告)号：CN111273252A
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN202010157750.5
申请日：2020-03-09
Applicant: 上海无线电设备研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于多块DDS同步的去斜处理方法，包括以下步骤：步骤1：为所有DDS提供完全一致的参考时钟；步骤2：通过一块FPGA向所有DDS提供完全一致的IO_UPDATE信号；步骤3：通过FPGA对DDS进行同步配置；判断所有DDS的同步时钟信号是否完全对齐；若未对齐，重新配置；步骤4：同步完成后，根据实际需求将一路或多路DDS信号传输至发射前端进行发射，一路DDS信号作为参考信号传输至接收端；步骤5：通过对发射信号与参考信号进行时延精控，完成去斜处理。此发明解决了传统的雷达高度计去斜处理中器件同步性差导致时延偏差的问题，通过多块DDS芯片结合FPGA精准控制输出信号间时延，降低了差频频点与信号带宽，减小了系统硬件压力，实现了测距结果更精准的效果。
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公开(公告)号：CN110579762A
公开(公告)日：2019-12-17
申请号：CN201911013328.6
申请日：2019-10-23
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01S13/90
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹圆迹SAR快速后向投影成像方法，该方法包括以下步骤：步骤1：建立太赫兹圆迹SAR方位向和距离向上等间距成像点的成像网格，并对线性调频信号进行各个方位向的匹配滤波，完成距离向的压缩，获得距离压缩信号；步骤2：在某个方位向时，成像点通过距离压缩信号投影，得到该方位向的成像点的后向散射系数；步骤3：在太赫兹圆迹SAR的各个方位向重复步骤2，得到各个方位向的成像点的后向散射系数；步骤4：对所有方位向的成像点的后向散射系数相干叠加，得到太赫兹圆迹SAR投影的成像结果。此方法解决了太赫兹波段下圆迹SAR成像过程中后向投影算法的运算量大的问题，实现了运算量的缩减，有效提高了运算效率，具有实际的应用前景。
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