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公开(公告)号：CN113884047B
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202010637446.0
申请日：2020-07-03
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01B21/16
Abstract: 本发明公开了一种轨距尺检测装置，其包括有分体式的第一测量平台和第二测量平台，所述第一测量平台和所述第二测量平台分别用于抵靠轨距尺的两端，所述第一测量平台和所述第二测量平台共同对所述轨距尺进行长度检测检定和超高检测检定。本发明的轨距尺检测装置，通过将轨距尺的两端的活动测头分别抵靠于两个测量平台，两个测量平台共同作用完成轨距尺的长度检测检定和超高检测检定，采用电机作为驱动部件，采用光栅尺与读数头作为测量部件采集位移信息，读数头测得的位移数据作为标准与轨距尺的读数相比较，从而实现在现场对轨距尺的高精度检定。
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公开(公告)号：CN113884047A
公开(公告)日：2022-01-04
申请号：CN202010637446.0
申请日：2020-07-03
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01B21/16
Abstract: 本发明公开了一种轨距尺检测装置，其包括有分体式的第一测量平台和第二测量平台，所述第一测量平台和所述第二测量平台分别用于抵靠轨距尺的两端，所述第一测量平台和所述第二测量平台共同对所述轨距尺进行长度检测检定和超高检测检定。本发明的轨距尺检测装置，通过将轨距尺的两端的活动测头分别抵靠于两个测量平台，两个测量平台共同作用完成轨距尺的长度检测检定和超高检测检定，采用电机作为驱动部件，采用光栅尺与读数头作为测量部件采集位移信息，读数头测得的位移数据作为标准与轨距尺的读数相比较，从而实现在现场对轨距尺的高精度检定。
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公开(公告)号：CN212432102U
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN202021294903.2
申请日：2020-07-03
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01B21/16
Abstract: 本实用新型公开了一种轨距尺检测装置，其包括有分体式的第一测量平台和第二测量平台，所述第一测量平台和所述第二测量平台分别用于抵靠轨距尺的两端，所述第一测量平台和所述第二测量平台共同对所述轨距尺进行长度检测检定和超高检测检定。本实用新型的轨距尺检测装置，通过将轨距尺的两端的活动测头分别抵靠于两个测量平台，两个测量平台共同作用完成轨距尺的长度检测检定和超高检测检定，采用电机作为驱动部件，采用光栅尺与读数头作为测量部件采集位移信息，读数头测得的位移数据作为标准与轨距尺的读数相比较，从而实现在现场对轨距尺的高精度检定。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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