公开(公告)号：CN119416711A

公开(公告)日：2025-02-11

申请号：CN202411465667.9

申请日：2024-10-18

Applicant: 上海工程技术大学

Inventor： 程余磊 ,  金婕 ,  严伟 ,  庄家健

IPC: G06F30/3308 ,  G06F30/337 ,  G06N10/80 ,  G06N10/20 ,  G06N10/40 ,  G06F11/22 ,  G06F11/26 ,  G06F11/30 ,  G06F11/34 ,  G06F111/06 ,  G06F115/10 ,  G06F119/06 ,  G06F119/08

Abstract: 本发明公开了一种基于RISC‑V的超导处理器微架构构建方法，旨在实现超低温环境下处理器的高效运行与性能优化。该方法包括以下步骤：首先，基于RISC‑V指令集设计处理器的功能模块和流水线，并预设初始参数；接下来，通过仿真工具和多目标优化算法选择并优化微架构参数，确保性能、功耗与芯片面积之间的平衡；然后，设计并集成低温冷却系统，确保处理器在2至4开尔文的超低温环境中稳定运行；通过仿真和实际测试验证处理器的功能正确性和性能效率；最后，使用超导材料制造关键组件，并将处理器与冷却系统一体封装。结合精细化性能优化和综合性能评估算法，本发明能够显著提升处理器在复杂环境下的性能与能效。

公开(公告)号：CN119206363A

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202411438873.0

申请日：2024-10-15

Applicant: 上海工程技术大学

Inventor： 庄家健 ,  金婕 ,  严伟 ,  程余磊

IPC: G06V10/764 ,  G06N3/096 ,  G06N3/045 ,  G06V10/82 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/088 ,  G06V10/774 ,  G06V10/776 ,  G06N3/08 ,  G06V10/80 ,  G06V10/40

Abstract: 本发明公开了一种基于知识蒸馏和VAE的多尺度感知特征异常定位方法，涉及工业图像异常检测技术领域，用于无监督图像表面缺陷异常检测，包括图像生成、像素级异常分数计算、教师克隆网络、学生编码器、多尺度特征融合、异常区域分割等步骤；本发明利用克隆网络C从输入数据中提取有用的特征表示，将其各层特征的激活值提炼给VAE编码器，并针对重建图像模块引入了多层级双重注意力模块。这一创新不仅缓解了模型存在的浅层特征干扰问题，还提高了模型在像素级别对图像感知特征的获取和异常定位的精度。最终，该发明在公开数据集上达到了优秀的异常检测效果，相较于其他的VAE方法有了明显的提高，证明其在真实场景下的实用性、有效性。