公开(公告)号：CN115861259A

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202211623095.3

申请日：2022-12-16

Applicant: 上海工程技术大学

Inventor： 李志伟 ,  郭志慧 ,  涂必胜 ,  陈明 ,  任远红 ,  殷志祥

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/70 ,  G06N3/045 ,  G06N3/084

Abstract: 本发明提供一种基于模板匹配的引线框架表面缺陷检测方法及装置，所述方法包括：建立以亮度划分等级的模板库；获取引线框架上下表面图片，通过模板匹配进行检测区域定位；将模板与ROI区域进行动态差分，采用改进后的孪生神经网络模型对图片相似度进行比较，进行缺陷检测；根据缺陷检测的结果进行产品判定。本发明方法实现简单、误检率低、检测精度高，可实现多种引线框架型号的缺陷检测。

公开(公告)号：CN114926412A

公开(公告)日：2022-08-19

申请号：CN202210482692.2

申请日：2022-05-05

Applicant: 上海工程技术大学

Inventor： 肖新杰 ,  李志伟 ,  陈明 ,  涂必胜 ,  周婕 ,  郑照

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/26 ,  G06V10/75 ,  G06V10/82 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明公开了一种QFN引线框架表面缺陷检测方法，包括，获取包括QFN引线框架阵列和承载所述QFN引线框架阵列的载台的第一图像；对第一图像进行图像分割获得多个QFN引线框架阵列单元图像；对QFN引线框架阵列中的单元图像提取模板图像及其像素值；根据单元图像像素值、模板图像像素值和预设差值阈值，检测判断单元图像中QFN引线框架的表面缺陷。

公开(公告)号：CN115205515A

公开(公告)日：2022-10-18

申请号：CN202210809170.9

申请日：2022-07-11

Applicant: 上海工程技术大学

Inventor： 孙霆瑞 ,  李志伟 ,  涂必胜 ,  陈明 ,  郑照 ,  张钊 ,  肖新杰

IPC: G06V10/24 ,  G06V10/74 ,  G06V10/20

Abstract: 本发明公开了一种QFN引线框架检测图像处理方法，包括，获取QFN引线框架检测图像；利用模板匹配法获取所述QFN引线框架的定位点信息；根据获得的QFN引线框架定位点信息，计算所述QFN引线框架检测图像倾斜角度；计算所述引线框架在所述检测图像中的形心坐标。根据计算得到的倾斜角度和形心坐标对所述QFN引线框架在检测图像中的位置进行校正。