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发明公开
QFN引线框架检测图像处理方法及装置审中-实审

公开(公告)号：CN115205515A

公开(公告)日：2022-10-18

申请号：CN202210809170.9

申请日：2022-07-11

Applicant: 上海工程技术大学

Inventor： 孙霆瑞 , 李志伟 , 涂必胜 , 陈明 , 郑照 , 张钊 , 肖新杰

IPC: G06V10/24 , G06V10/74 , G06V10/20

Abstract: 本发明公开了一种QFN引线框架检测图像处理方法，包括，获取QFN引线框架检测图像；利用模板匹配法获取所述QFN引线框架的定位点信息；根据获得的QFN引线框架定位点信息，计算所述QFN引线框架检测图像倾斜角度；计算所述引线框架在所述检测图像中的形心坐标。根据计算得到的倾斜角度和形心坐标对所述QFN引线框架在检测图像中的位置进行校正。

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