一种实现轨道板裂缝自动检测的成像方法及装置

    公开(公告)号:CN111452830B

    公开(公告)日:2021-04-09

    申请号:CN202010274433.1

    申请日:2020-04-09

    Abstract: 本发明公开了一种实现轨道板裂缝自动检测的成像方法及装置,所述成像方法是指,先利用摄像仪检测轨道板裂缝表面缺陷,再利用超声波发射接收器激发并经由超声线性阵列探头发射频率在1~5MHz范围内的超声波信号至轨道板内部,由超声线性阵列探头采用自发自收的模式获取轨道板中的扩散场信号并将扩散场信号传输给计算机,最后由计算机采用MATLAB软件对所接收到的信号被动提取格林函数,对扩散场信号进行互相关,重建阵元之间的格林函数,获取阵元之间未延时的响应,恢复被噪声淹没的早期缺陷信息,然后依据频域合成孔径聚焦成像算法进行轨道板裂缝成像。本发明可以高效、无损、实时的检测无砟轨道板裂缝表面及裂缝内部缺陷。

    一种实现轨道板裂缝自动检测的成像方法及装置

    公开(公告)号:CN111452830A

    公开(公告)日:2020-07-28

    申请号:CN202010274433.1

    申请日:2020-04-09

    Abstract: 本发明公开了一种实现轨道板裂缝自动检测的成像方法及装置,所述成像方法是指,先利用摄像仪检测轨道板裂缝表面缺陷,再利用超声波发射接收器激发并经由超声线性阵列探头发射频率在1~5MHz范围内的超声波信号至轨道板内部,由超声线性阵列探头采用自发自收的模式获取轨道板中的扩散场信号并将扩散场信号传输给计算机,最后由计算机采用MATLAB软件对所接收到的信号被动提取格林函数,对扩散场信号进行互相关,重建阵元之间的格林函数,获取阵元之间未延时的响应,恢复被噪声淹没的早期缺陷信息,然后依据频域合成孔径聚焦成像算法进行轨道板裂缝成像。本发明可以高效、无损、实时的检测无砟轨道板裂缝表面及裂缝内部缺陷。

    一种用于轨道板内部缺陷检测的成像方法及装置

    公开(公告)号:CN111323485A

    公开(公告)日:2020-06-23

    申请号:CN202010274377.1

    申请日:2020-04-09

    Abstract: 本发明公开了一种用于轨道板内部缺陷检测的成像方法及装置,所述成像方法是指:先利用超声波发射接收器激发并经由超声阵列传感器发射频率在20~100kHz范围内的超声波信号至轨道板内部,由超声阵列传感器采用一发多收的模式获取轨道板内部缺陷的反射回波信号并将反射回波信号传输给计算机;然后由计算机采用MATLAB软件对接收的反射回波信号进行数据存储和信号处理,然后依据时域合成孔径聚焦成像算法与三维成像技术得出轨道板内部缺陷的三维图像。本发明可以高效、无损、实时的检测轨道板内部缺陷检测,且检测结果基本不受外界环境影响,检测精度高。

    一种用于无砟轨道板裂缝检测的信号采集装置

    公开(公告)号:CN211856387U

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN202020510170.5

    申请日:2020-04-09

    Abstract: 本实用新型公开了一种用于无砟轨道板裂缝检测的信号采集装置,包括控制器、轨检小车和摄像仪,摄像仪与控制器信号连接,还包括超声波发射接收器和超声线性阵列探头,超声线性阵列探头的发射端与超声波发射接收器的发射接口信号连接,超声线性阵列探头的接收端与超声波发射接收器的接收接口信号连接,超声线性阵列探头与一自适应伸缩机构相连接,自适应伸缩机构与一双轴位移调节机构相连接,且双轴位移调节机构固定连接在轨检小车的前端。本实用新型提供的信号采集装置,可以高效、无损、实时的采集无砟轨道板裂缝表面及裂缝内部缺陷的信号,可用于无砟轨道板裂缝检测,检测速度快、效率高,且检测结果基本不受外界环境影响,检测精度高。

    一种用于轨道板内部缺陷检测的信号采集装置

    公开(公告)号:CN211905211U

    公开(公告)日:2020-11-10

    申请号:CN202020510154.6

    申请日:2020-04-09

    Abstract: 本实用新型公开了一种用于轨道板内部缺陷检测的信号采集装置,包括轨检小车和超声波发射接收器,超声波发射接收器包括超声波信号激励单元和超声波信号接收单元,还包括超声阵列传感器,超声阵列传感器的发射端与超声波信号激励单元信号连接,超声阵列传感器的接收端与超声波信号接收单元信号连接,超声阵列传感器与一自适应位移反馈调节装置相连接,且自适应位移反馈调节装置固定连接在轨检小车的前端。本实用新型提供的信号采集装置,信号采集过程中灵敏度高、不易受外界条件干扰,可用于轨道板内部缺陷的无损检测,检测速度快、效率高,且检测结果基本不受外界环境影响,检测精度高。

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