一种基于多模型融合卷积神经网络的PCB缺陷图像识别方法

    公开(公告)号:CN113344041B

    公开(公告)日:2022-12-23

    申请号:CN202110552810.8

    申请日:2021-05-20

    Applicant: 上海大学

    Abstract: 本发明公开一种基于改进卷积神经网络的PCB缺陷图像识别方法。针对现有ResNet50深度卷积神经网络模型的不足,引入名为Res2Net的新型CNN模块,并更改残差连接结构和激活函数,来提高网络多层的非线性扩展能力。基于改进ResNet50模型,融入DenseNet169卷积神经网络,基于多模型提取的图像特征进行融合,并对融合特征输出网络结构进行改进,建立了一种多模型融合的PCB缺陷图像识别的卷积神经网络框架。本发明方法可对不同类型的PCB缺陷图像进行识别,较单一模型具有识别准确率、敏感性高的特点,并且能够实现PCB缺陷类别的自动化和智能化识别。

    一种基于改进深度学习算法的PCB缺陷图像检测方法

    公开(公告)号:CN115409797A

    公开(公告)日:2022-11-29

    申请号:CN202211039779.9

    申请日:2022-08-29

    Applicant: 上海大学

    Abstract: 本发明公开一种基于改进深度学习算法的PCB缺陷图像检测方法。针对YOLOv3深度卷积神经网络模型对于正负样本不均衡、网络对PCB小缺陷的特征表达、图像重要特征信息提取等不足提出了改进,本发明提出了将FocalLoss函数代替原YOLOv3模型中的MSELoss函数的改进方式,以此来动态地控制正负样本和难易分类样本权重。同时本发明将SPP模块嵌入于支路小目标检测头、并且将CBAM模块并联融入YOLOv3模型,以使模型可以更多地关注图像中的缺陷信息,从而提升模型整体的特征提取能力。本发明方法可对不同类型的PCB缺陷图像进行检测,较原YOLOv3模型相比,敏感性等指标均有提升,在PCB缺陷检测任务中具有较好的性能,可以降低漏检率与误检率,更好地实现PCB缺陷的自动化和智能化检测。

    一种基于改进YOLOv3的PCB缺陷图像检测方法

    公开(公告)号:CN113962933A

    公开(公告)日:2022-01-21

    申请号:CN202111078778.0

    申请日:2021-09-15

    Applicant: 上海大学

    Abstract: 本发明公开一种基于改进YOLOv3网络的PCB缺陷图像检测方法。本发明方法针对YOLOv3模型对小目标缺陷检测效果差的问题进行改进,在原8倍下采样之后继续进行一次上采样,得到与4倍下采样同等大小的深层特征图,再进行特征融合,构成小目标检测头。为了进一步提高PCB缺陷检测效果,在保证小目标缺陷检测效果的同时,也对大目标缺陷检测具有泛化能力。因此,在增加小目标检测头的同时也保留大目标检测头,最终建立适合PCB缺陷图像检测的改进型YOLOv3模型。本方法可对不同形态的PCB缺陷图像进行检测,较原YOLOv3模型具有更低的漏检率与误检率,并且能实现PCB缺陷的自动化和智能化检测。

    一种基于多模型融合卷积神经网络的PCB缺陷图像识别方法

    公开(公告)号:CN113344041A

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:CN202110552810.8

    申请日:2021-05-20

    Applicant: 上海大学

    Abstract: 本发明公开一种基于改进卷积神经网络的PCB缺陷图像识别方法。针对现有ResNet50深度卷积神经网络模型的不足,引入名为Res2Net的新型CNN模块,并更改残差连接结构和激活函数,来提高网络多层的非线性扩展能力。基于改进ResNet50模型,融入DenseNet169卷积神经网络,基于多模型提取的图像特征进行融合,并对融合特征输出网络结构进行改进,建立了一种多模型融合的PCB缺陷图像识别的卷积神经网络框架。本发明方法可对不同类型的PCB缺陷图像进行识别,较单一模型具有识别准确率、敏感性高的特点,并且能够实现PCB缺陷类别的自动化和智能化识别。

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