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公开(公告)号:CN101591804B
公开(公告)日:2011-08-31
申请号:CN200910053887.X
申请日:2009-06-26
Applicant: 上海大学
IPC: C30B28/02 , C30B33/02 , H01L21/324 , H01L21/477 , C30B29/06
Abstract: 本发明涉及一种高温液相加热晶化方法及设备。本装备有一可盛高温金属液体的槽,在该槽内盛有高温的金属或非金属液体,在此液体中还可以插入一高温区,在高温金属或非金属液体上面有包括需要晶化的衬底,衬底上面有需要晶化的非晶薄膜组成的基板,该基板有一个推动系统推动可连续晶化该非晶膜。本方法是将基板放在槽内并浮在高温液面上面,在真空或惰性气体或还原气体下加热至500度到1000度,在1分钟到20小时之间进行晶化,然后降温至250度到300度,取出基板。本发明能保持基板的平整度、不变形,受热均匀,传热效率高。
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公开(公告)号:CN101572273A
公开(公告)日:2009-11-04
申请号:CN200910050351.2
申请日:2009-04-30
Applicant: 上海大学
IPC: H01L29/786 , H01L29/417 , H01L21/283
Abstract: 本发明涉及一种薄膜晶体管器件。它包括基板、金属栅极层、第一绝缘层、有源层、金属源电极和漏电极层,在所述的有源层与金属源电极和漏电极层之间有一层第二绝缘层,它代替一般使用的欧姆接触层能起到降低源、漏电极和有源层中间的接触电阻的作用。由此可以降低器件制作过程中使用有毒气体和减少一道蚀刻工艺。
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公开(公告)号:CN101572273B
公开(公告)日:2011-05-04
申请号:CN200910050351.2
申请日:2009-04-30
Applicant: 上海大学
IPC: H01L29/786 , H01L29/417 , H01L21/283
Abstract: 本发明涉及一种薄膜晶体管器件。它包括基板、金属栅极层、第一绝缘层、有源层、金属源电极和漏电极层,在所述的有源层与金属源电极和漏电极层之间有一层第二绝缘层,它代替一般使用的欧姆接触层能起到降低源、漏电极和有源层中间的接触电阻的作用。由此可以降低器件制作过程中使用有毒气体和减少一道蚀刻工艺。
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公开(公告)号:CN101591804A
公开(公告)日:2009-12-02
申请号:CN200910053887.X
申请日:2009-06-26
Applicant: 上海大学
IPC: C30B28/02 , C30B33/02 , H01L21/324 , H01L21/477 , C30B29/06
Abstract: 本发明涉及一种高温液相加热晶化方法及装备。本装备有一可盛高温金属液体的槽,在该槽内盛有高温的金属或非金属液体,在此液体中还可以插入一高温区,在高温金属或非金属液体上面有包括需要晶化的衬底,衬底上面有需要晶化的非晶薄膜组成的基板,该基板有一个推动系统推动可连续晶化该非晶膜。本方法是将基板放在槽内并浮在高温液面上面,在真空或惰性气体或还原气体下加热至500度到1000度,在1分钟到20小时之间进行晶化,然后降温至250度到300度,取出基板。本发明能保持基板的平整度、不变形,受热均匀,传热效率高。
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