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公开(公告)号：CN111630950B
公开(公告)日：2014-09-03
申请号：CN201110016355.6
申请日：2011-12-29
Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司
IPC: G06F30/00
Abstract: 本发明提出一种基于双立互锁电路和冗余结构的集成电路设计方法，该方法基于现有技术DICE原理、TMR原理和标准逻辑单元库的流程原理，将标准的逻辑单元库网表转化为DICE/TMR的网表，通过DICE库的建立、功能验证、对称数据库综合、对称数据库布局布线、基于对称库的带RC的网表、对称逻辑时序验证、物理验证检查、生成GDSII文件。本发明建立了故障注入模型，并进行SPICE仿真。采用本发明适用于抗辐照集成电路设计和平衡功耗逻辑等结构的集成电路设计，应用本发明抗SET/SEU效果良好。实际芯片的SET/SEU实验也证实了专利技术流程的可行性和效果的有效性。有效提高抗辐照芯片的性能，以及提高设计效率，减少和缩短研制周期。
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