测温芯片的温度测量方法、测温芯片及可读存储介质

    公开(公告)号:CN110736567A

    公开(公告)日:2020-01-31

    申请号:CN201810810955.1

    申请日:2018-07-20

    Abstract: 一种测温芯片的温度测量方法、测温芯片及可读存储介质,所述测温芯片的温度测量方法包括:测量并获取测温芯片对应的第一温度,所述第一温度为所述测温芯片自身的实际温度;检测所述测温芯片接收到的电磁场能量,根据所述电磁场能量计算所述测温芯片对应的第二温度;基于所述第一温度和所述第二温度,获取所述测温芯片对应的目标测量物的温度。应用上述方案,可以提高测温芯片的温度测量精度。

    测温芯片的温度测量方法、测温芯片及可读存储介质

    公开(公告)号:CN110736567B

    公开(公告)日:2021-04-02

    申请号:CN201810810955.1

    申请日:2018-07-20

    Abstract: 一种测温芯片的温度测量方法、测温芯片及可读存储介质,所述测温芯片的温度测量方法包括:测量并获取测温芯片对应的第一温度,所述第一温度为所述测温芯片自身的实际温度;检测所述测温芯片接收到的电磁场能量,根据所述电磁场能量计算所述测温芯片对应的第二温度;基于所述第一温度和所述第二温度,获取所述测温芯片对应的目标测量物的温度。应用上述方案,可以提高测温芯片的温度测量精度。

    NDEF数据的读取及上传方法、终端、标签芯片、可读介质

    公开(公告)号:CN110728159A

    公开(公告)日:2020-01-24

    申请号:CN201810787719.2

    申请日:2018-07-17

    Abstract: 一种NDEF数据的读取及上传方法、终端、标签芯片、可读介质,所述NDEF数据的读取方法包括:确定读取NDEF数据的发起时刻,所述发起时刻包括以下任意一种:预设的重发时间间隔超时的时刻、预设的断点续传时间间隔超时的时刻和预设的最大延时时间间隔超时的时刻;在所述发起时刻,发送NDEF数据访问请求指令至底层操作系统,使得所述底层操作系统为电子标签芯片上电,所述电子标签芯片基于不同的上电时刻选择重发NDEF数据、断点续传NDEF数据或者新传NDEF数据;接收并获取所述电子标签芯片经由所述底层操作系统发送的NDEF数据。应用上述方案,可以提高数据传输效率和准确率。

    一种滤波器
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN203225719U

    公开(公告)日:2013-10-02

    申请号:CN201320224847.9

    申请日:2013-04-27

    Abstract: 本实用新型提供了一种滤波器,所述滤波器包括:滤波控制器、输入缓存器、多采样率输入信号处理器、多路乘累加电路、输出缓存器和多采样率输出信号处理器。其中,所述滤波控制器分别与所述多采样率输入信号处理器、多路乘累加电路和所述多采样率输出信号处理器耦接;所述多采样率输入信号处理器的输入端与所述输入缓存器的输出端耦接,所述多采样率输入信号处理器的输出端与所述多路乘累加电路的输入端耦接;所述输出缓存器的输入端与所述多路乘累加电路的输出端耦接;所述多采样率输出信号处理器的输入端与所述输出缓存器的输出端耦接。所述滤波器在降低芯片面积、成本和复杂度的情况下,既能实现升采样滤波功能,也能实现降采样滤波功能。

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