公开(公告)号：CN103163491A

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：CN201110410827.6

申请日：2011-12-12

Applicant: 上海北京大学微电子研究院 ,  北京大学软件与微电子学院

Inventor： 严伟 ,  袁晨 ,  程玉华

IPC: G01R31/44

Abstract: 本发明提出了一种可提供统一测试环境的LED批量抗静电测试基座。通过利用它，可控制测试人员在批量样品静电测试中引入环境因素。该方法在恒温条件下，将待测元件通过基座接入静电测试系统。适用于人体模型，机械模型，TLP模型等各种静电检测终端。可排除测试过程中环境的光，热，静电等因素，有效的固定样品，保持测试的统一性。

公开(公告)号：CN101949989A

公开(公告)日：2011-01-19

申请号：CN201010285713.9

申请日：2010-09-17

Applicant: 上海北京大学微电子研究院

Inventor： 袁晨 ,  严伟

IPC: G01R31/02 ,  G01R31/26 ,  G01R19/00

Abstract: 本发明提出了一种在不同波长条件下LED漏电流的测试方法，该方法在恒温条件下，将待测LED接入TLP测试系统，通过幅度连续可调的矩形短脉冲进行作用，实现对其漏电流的检测。为提高测试精度，排除不同形状、不同位置光源的影响，在本发明的一个实施例中引入积分球。当光束进入积分球后，经多次漫反射，就形成一个理想的漫射源。这样就可以消除光源带来的干扰，也可以消除待测LED受光面的不均匀性带来的影响。

公开(公告)号：CN102004181A

公开(公告)日：2011-04-06

申请号：CN201010285715.8

申请日：2010-09-17

Applicant: 上海北京大学微电子研究院

Inventor： 严伟 ,  袁晨

IPC: G01R19/00 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明公开了可以实现温控的集LED漏电流与抗静电能力测试于一体的检测方案。本发明采用TLP测试系统测量漏电流，并引入恒温鼓风干燥箱控制箱实现温控调节，同时消除了空气中的湿度可能对静电测试结果的影响。采用本发明所述方法，既能利用TLP模型测量各个温度下通过LED的漏电流，反映出LED芯片的质量高低，又可以产生幅度连续可调的矩形短脉冲进行LED芯片的抗静电能力检测，说明器件存在的一些潜在失效机理。