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公开(公告)号：CN110260772B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN201910516327.7
申请日：2019-06-14
Applicant: 上海交通大学 , 江苏东华测试技术股份有限公司
IPC: G01B7/04
Abstract: 本发明提供了一种测量土与地下结构动态相对滑移时程和路径的系统及方法，包括：连接板(1)、滑块(2)、电容屏(3)、电容笔(4)、保护罩(5)；其中：滑块(2)的第一端面与土体接触，滑块(2)的第二端面与电容笔(4)紧固连接；电容笔(4)底部的尖端与电容屏(3)电接触；电容屏(3)与所述连接板(1)紧固连接；保护罩(5)设置在连接板(1)与滑块(2)之间，用以形成容纳电容屏、电容笔的空间；当测量土与地下结构之间发生相对滑移时，电容笔底部的尖端与电容屏之间发生相对滑动，从而测出土与地下结构动态相对滑移时程和路径。本发明中的系统统结构简单，检测操作方便，量程大，防水和隔土性能好，精确度高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110243270B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN201910516322.4
申请日：2019-06-14
Applicant: 上海交通大学 , 江苏东华测试技术股份有限公司
IPC: G01B7/02
Abstract: 本发明提供了一种测量土与地下结构切向动态相对滑动位移量的系统及方法，该系统由滑块、X方向滑轨、Y方向滑轨、外壳、电涡流传感器、连接板组成；其中：滑块的第一端面与土体接触，滑块的第二端面设置向下延伸的方柱，方柱在预设高度沿X方向设置通孔；Y方向滑轨与外壳固定连接；X方向滑轨穿过方柱的通孔，且X方向滑轨的两端与Y方向滑轨滑动接触；电涡流传感器的一端与方柱接触连接，用于分别测量所述滑块沿X方向、Y方向的位移。本发明提供的系统结构简单，检测操作方便，并且可以适用于不同类型的地下结构体接触面(例如平面、曲面及各种异形面)，精确地测量出沿地下结构的横截面横轴向和纵轴向位移分量。
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公开(公告)号：CN110260772A
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201910516327.7
申请日：2019-06-14
Applicant: 上海交通大学 , 江苏东华测试技术股份有限公司
IPC: G01B7/04
Abstract: 本发明提供了一种测量土与地下结构动态相对滑移时程和路径的系统及方法，包括：连接板(1)、滑块(2)、电容屏(3)、电容笔(4)、保护罩(5)；其中：滑块(2)的第一端面与土体接触，滑块(2)的第二端面与电容笔(4)紧固连接；电容笔(4)底部的尖端与电容屏(3)电接触；电容屏(3)与所述连接板(1)紧固连接；保护罩(5)设置在连接板(1)与滑块(2)之间，用以形成容纳电容屏、电容笔的空间；当测量土与地下结构之间发生相对滑移时，电容笔底部的尖端与电容屏之间发生相对滑动，从而测出土与地下结构动态相对滑移时程和路径。本发明中的系统统结构简单，检测操作方便，量程大，防水和隔土性能好，精确度高。
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公开(公告)号：CN110243270A
公开(公告)日：2019-09-17
申请号：CN201910516322.4
申请日：2019-06-14
Applicant: 上海交通大学 , 江苏东华测试技术股份有限公司
IPC: G01B7/02
Abstract: 本发明提供了一种测量土与地下结构切向动态相对滑动位移量的系统及方法，该系统由滑块、X方向滑轨、Y方向滑轨、外壳、电涡流传感器、连接板组成；其中：滑块的第一端面与土体接触，滑块的第二端面设置向下延伸的方柱，方柱在预设高度沿X方向设置通孔；Y方向滑轨与外壳固定连接；X方向滑轨穿过方柱的通孔，且X方向滑轨的两端与Y方向滑轨滑动接触；电涡流传感器的一端与方柱接触连接，用于分别测量所述滑块沿X方向、Y方向的位移。本发明提供的系统结构简单，检测操作方便，并且可以适用于不同类型的地下结构体接触面(例如平面、曲面及各种异形面)，精确地测量出沿地下结构的横截面横轴向和纵轴向位移分量。
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公开(公告)号：CN209945248U
公开(公告)日：2020-01-14
申请号：CN201920897569.0
申请日：2019-06-14
Applicant: 上海交通大学 , 江苏东华测试技术股份有限公司
IPC: G01B7/04
Abstract: 本实用新型提供了一种测量土与地下结构动态相对滑移时程和路径的系统，包括：连接板(1)、滑块(2)、电容屏(3)、电容笔(4)、保护罩(5)；其中：滑块(2)的第一端面与土体接触，滑块(2)的第二端面与电容笔(4)紧固连接；电容笔(4)底部的尖端与电容屏(3)电接触；电容屏(3)与所述连接板(1)紧固连接；保护罩(5)设置在连接板(1)与滑块(2)之间，用以形成容纳电容屏、电容笔的空间；当测量土与地下结构之间发生相对滑移时，电容笔底部的尖端与电容屏之间发生相对滑动，从而测出土与地下结构动态相对滑移时程和路径。本实用新型中的系统统结构简单，检测操作方便，量程大，防水和隔土性能好，精确度高。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209945246U
公开(公告)日：2020-01-14
申请号：CN201920897567.1
申请日：2019-06-14
Applicant: 上海交通大学 , 江苏东华测试技术股份有限公司
IPC: G01B7/02
Abstract: 本实用新型提供了一种测量土与地下结构切向动态相对滑动位移量的系统，该系统由滑块、X方向滑轨、Y方向滑轨、外壳、电涡流传感器、连接板组成；其中：滑块的第一端面与土体接触，滑块的第二端面设置向下延伸的方柱，方柱在预设高度沿X方向设置通孔；Y方向滑轨与外壳固定连接；X方向滑轨穿过方柱的通孔，且X方向滑轨的两端与Y方向滑轨滑动接触；电涡流传感器的一端与方柱接触连接，用于分别测量所述滑块沿X方向、Y方向的位移。本实用新型提供的系统结构简单，检测操作方便，并且可以适用于不同类型的地下结构体接触面(例如平面、曲面及各种异形面)，精确地测量出沿地下结构的横截面横轴向和纵轴向位移分量。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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