公开(公告)号：CN102032946B

公开(公告)日：2012-05-30

申请号：CN201010523595.0

申请日：2010-10-29

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 石现领 ,  邓晓旭 ,  朱宵辉 ,  祝颂 ,  高景

IPC: G01J1/42 ,  G01N21/63

Abstract: 一种光电测量技术领域的同时测量Pockels和Kerr电光系数的方法，采用棱镜耦合激发表面等离子波，使得入射光能量耦合到表面等离子波模式和导波模式中，反射光能量急剧衰减形成一系列共振曲线即衰减全反射ATR曲线。外加三角波电压调制入射光，ATR曲线水平微量移动，反射光强发生变化，通过变化量求出Pockels系数和Kerr系数。

公开(公告)号：CN102032946A

公开(公告)日：2011-04-27

申请号：CN201010523595.0

申请日：2010-10-29

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 石现领 ,  邓晓旭 ,  朱宵辉 ,  祝颂 ,  高景

IPC: G01J1/42 ,  G01N21/63

Abstract: 一种光电测量技术领域的同时测量Pockels和Kerr电光系数的方法，采用棱镜耦合激发表面等离子波，使得入射光能量耦合到表面等离子波模式和导波模式中，反射光能量急剧衰减形成一系列共振曲线即衰减全反射ATR曲线。外加三角波电压调制入射光，ATR曲线水平微量移动，反射光强发生变化，通过变化量求出Pockels系数和Kerr系数。