同时测量Pockels和Kerr电光系数的方法

    公开(公告)号:CN102032946B

    公开(公告)日:2012-05-30

    申请号:CN201010523595.0

    申请日:2010-10-29

    Abstract: 一种光电测量技术领域的同时测量Pockels和Kerr电光系数的方法,采用棱镜耦合激发表面等离子波,使得入射光能量耦合到表面等离子波模式和导波模式中,反射光能量急剧衰减形成一系列共振曲线即衰减全反射ATR曲线。外加三角波电压调制入射光,ATR曲线水平微量移动,反射光强发生变化,通过变化量求出Pockels系数和Kerr系数。

    同时测量Pockels和Kerr电光系数的方法

    公开(公告)号:CN102032946A

    公开(公告)日:2011-04-27

    申请号:CN201010523595.0

    申请日:2010-10-29

    Abstract: 一种光电测量技术领域的同时测量Pockels和Kerr电光系数的方法,采用棱镜耦合激发表面等离子波,使得入射光能量耦合到表面等离子波模式和导波模式中,反射光能量急剧衰减形成一系列共振曲线即衰减全反射ATR曲线。外加三角波电压调制入射光,ATR曲线水平微量移动,反射光强发生变化,通过变化量求出Pockels系数和Kerr系数。

    基于双面金属反射型偏振无关晶体电光调制器

    公开(公告)号:CN101281301A

    公开(公告)日:2008-10-08

    申请号:CN200810037837.8

    申请日:2008-05-22

    Abstract: 本发明公开一种基于双面金属反射型偏振无关晶体电光调制器,其中:晶体导波层的上下表面分别附着上下层金属电极,晶体导波层与附着的上下层金属电极共同组成波导结构,输入匹配电路连接上层金属电极和下层金属电极,入射载波光经过聚焦后形成聚焦光束入射到上述波导结构中,经上层金属电极发生反射,通过输入匹配电路在上层金属电极和下层金属电极之间加上调制电信号,调制信号通过改变导波层的折射率来改变工作角处的反射率,进而实现对反射光强度的调制。本发明具有偏振无关的特性,而且对导波层晶体材料的电光系数要求低。同时,工作电压低,调制带宽大,插入损耗和传输损耗小,且制作简单,成本低廉。

    基于自由空间耦合技术的电光开关

    公开(公告)号:CN101241242A

    公开(公告)日:2008-08-13

    申请号:CN200810034563.7

    申请日:2008-03-13

    Abstract: 一种用于光传送网技术领域的基于自由空间耦合技术的电光开关,包括:激光器、上层金属膜、中间导波层、下层金属膜和硅片衬底,所述中间导波层材料为电光有机聚合物。硅片衬底位于最底部,其上附着着下层金属膜,下层金属膜上紧贴着导波层,导波层上附着着上层金属膜,上层金属膜、导波层和下层金属膜组成波导结构,激光器输出的激光束经过聚焦后形成聚焦光束入射到上述波导结构中,上层金属膜和下层金属膜之间有一可调电压。本发明降低了对聚合物材料电光系数的要求,且工作电压很低,制作工艺简单的优点,并且有机聚合物材料具有极高的响应速度,这使器件可以具有高达纳秒数量级的开关速度。

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