一种高灵敏度的单分子显微成像方法及系统

    公开(公告)号:CN116297334A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310063367.7

    申请日:2023-01-22

    Abstract: 本发明提供了一种高灵敏的单分子显微成像方法及系统,旨在解决现有技术中对于对于蛋白质等单分子的检测灵敏度较低的问题。一种高灵敏的单分子显微成像方法,包括:入射光通过支持长传播距离平面表面等离激元的成像芯片后,发生样品对表面等离激元的平面内散射,且平面内散射光通过成像芯片反向耦合出射至平面外,图像传感器采集出射的平面内散射光和反射光形成的原始干涉图像;将样品散射光积分成样品信号亮点,获得带有信号亮点的点状分布图。本发明中,通过支持长传播距离平面表面等离激元的成像芯片,可以减少样品散射光的能量衰减,从而使得在将样品散射光积分成样品信号亮点时,可以提供更多散射能量用于收集,信噪比更高,从而提高了检测的灵敏度。

    一种基于深度学习的高灵敏表面等离子体检测系统及方法

    公开(公告)号:CN118570802A

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202410720648.X

    申请日:2024-06-05

    Abstract: 本发明涉及光学检测技术领域,具体提供了一种基于深度学习的高灵敏表面等离子体检测系统及方法,旨在解决现有技术中表面等离子体共振显微镜SPRM成像系统中的散粒噪声影响检测灵敏度的问题。一种基于深度学习的高灵敏表面等离子体检测系统包括空间信息提取模型,用于接收待检测样品的初始图像序列,提取初始图像序列的空间特征信息,获得空间特征序列并输出;时间信息提取模型,用于接收空间特征序列,提取所述空间特征序列中的时间特征信息,获得时空特征序列,并输出目标图像序列。本发明能够去除表面等离子成像系统采集的图像上的散粒噪声,提高表面等离子体成像系统的检测灵敏度。

    一种基于多方位角照明的成像方法及成像系统

    公开(公告)号:CN115793222A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211457642.5

    申请日:2022-11-18

    Abstract: 本发明公开了一种基于多方位角照明的成像方法,包括以下步骤:接收不同方位角的P偏振光;不同方位角的P偏振光经过干涉成像主光路获得与不同方位角的P偏振光一一对应的若干个表面等离子体干涉图像;将与每个不同方位角的P偏振光一一对应的若干个表面等离子体干涉图像进行图像重建,获得各向同性图像。本发明公开了一种基于多方位角照明的成像系统,包括:用于执行基于多方位角照明的成像方法。本发明利用多方位角偏振照明,获得与每个不同方位角的P偏振光一一对应的若干个表面等离子体干涉图像,并进行图像重建,获得各向同性图像,图像清晰度高且不会发生扭曲。

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