用于超快电子衍射和超快电子显微镜的电子源装置

    公开(公告)号:CN102629542B

    公开(公告)日:2014-08-20

    申请号:CN201210120441.6

    申请日:2012-04-24

    Abstract: 一种用于超快电子衍射和超快电子显微镜的电子源装置,包括低功率微波信号源,移相器、固态放大器和速调管、衰减器和环流器,沿所述的低功率微波信号源输出的微波信号方向依次是第一移相器、固态放大器和速调管,在所述的速调管的输出端与功率分配器的输入端相连,该功率分配器将所述的速调管输出的兆瓦级微波信号分为两路:第一路微波信号依次经所述的第一衰减器和环流器输入到电子枪前部的1.5腔内,第二路微波信号依次经第二衰减器和第二移相器输入电子枪后部的单腔内。本发明将束流能散度由10-3抑制到10-5以下,提高了超快电子衍射的空间分辨率。

    超快无透镜相干电子衍射成像方法及装置

    公开(公告)号:CN102903591A

    公开(公告)日:2013-01-30

    申请号:CN201210385701.2

    申请日:2012-10-12

    Abstract: 本发明公开了一种超快无透镜相干电子衍射成像方法及装置,通过与过程激发源(如飞秒激光脉冲)精确同步的电子脉冲和无透镜相干衍射成像技术相结合,分析被衍射的相干电子脉冲的强度分布,反演计算确定电子散射相位,实现三维瞬态原子尺度的结构和形貌重构,解决传统的电子显微成像方法不具有高时间分辨能力或目前的超快电子成像时间和空间分辨率受限的技术困境。

    用于超快电子衍射和超快电子显微镜的电子源装置

    公开(公告)号:CN102629542A

    公开(公告)日:2012-08-08

    申请号:CN201210120441.6

    申请日:2012-04-24

    Abstract: 一种用于超快电子衍射和超快电子显微镜的电子源装置,包括低功率微波信号源,移相器、固态放大器和速调管、衰减器和环流器,沿所述的低功率微波信号源输出的微波信号方向依次是第一移相器、固态放大器和速调管,在所述的速调管的输出端与功率分配器的输入端相连,该功率分配器将所述的速调管输出的兆瓦级微波信号分为两路:第一路微波信号依次经所述的第一衰减器和环流器输入到电子枪前部的1.5腔内,第二路微波信号依次经第二衰减器和第二移相器输入电子枪后部的单腔内。本发明将束流能散度由10-3抑制到10-5以下,提高了超快电子衍射的空间分辨率。

    共轴光泵浦装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN102623286B

    公开(公告)日:2014-08-20

    申请号:CN201210120517.5

    申请日:2012-04-24

    Abstract: 一种共轴光泵浦装置,其构成是沿泵浦光的光路方向依次设有锥形凹透镜、锥形凸透镜、球形透镜和带45°准直小孔的反射镜,该反射镜与泵浦光束成45°夹角,准直小孔用于探测的电子束透射后入射到样品上;泵浦光经所述锥形凹透镜、锥形凸透镜和反射镜之后的光轴、反射镜的45°准直小孔的中轴,所述电子束的中轴和样品中心重合。在超快电子衍射和电子显微镜装置中,此装置实现了激光泵浦电子探测的共轴结构,最大限度的减小泵浦探测与样品的失配项,提高了系统的时间分辨能力,同时优化了探测电子束的准直性和质量。

    用于电子束流能量及脉冲宽度控制的微波偏转腔

    公开(公告)号:CN103096611A

    公开(公告)日:2013-05-08

    申请号:CN201310042142.X

    申请日:2013-02-04

    Abstract: 一种用于电子束流能量及脉冲宽度控制的微波偏转腔,由同轴的、依次排列的前端射频电子源、第一微波偏转腔、光阑(小孔、狭缝)和第二微波偏转腔构成,所述的第二微波偏转腔与第一微波偏转腔对电子束流的偏转方向相反,在各个元件之间存在电子束团的真空传输系统。本发明可以获得低能散和短束长的电子束团。

    共轴光泵浦装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN102623286A

    公开(公告)日:2012-08-01

    申请号:CN201210120517.5

    申请日:2012-04-24

    Abstract: 一种共轴光泵浦装置,其构成是沿泵浦光的光路方向依次设有锥形凹透镜、锥形凸透镜、球形透镜和带45°准直小孔的反射镜,该反射镜与泵浦光束成45°夹角,准直小孔用于探测的电子束透射后入射到样品上;泵浦光经所述锥形凹透镜、锥形凸透镜和反射镜之后的光轴、反射镜的45°准直小孔的中轴,所述电子束的中轴和样品中心重合。在超快电子衍射和电子显微镜装置中,此装置实现了激光泵浦电子探测的共轴结构,最大限度的减小泵浦探测与样品的失配项,提高了系统的时间分辨能力,同时优化了探测电子束的准直性和质量。

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