-
公开(公告)号:CN1521622A
公开(公告)日:2004-08-18
申请号:CN03115242.2
申请日:2003-01-29
Applicant: 上海芯华微电子有限公司 , 上海交通大学 , 同济大学
IPC: G06F9/45
Abstract: 本发明涉及一种集成电路的版图识别方法,运用计算机软件控制的方法加以实现。包括:在计算机中放入版图的原始信息,对原始信息进行编译;磁盘文件1存储编译的结果;接受磁盘文件1中存储的编译结果的信息,绘制出彩色版图;从磁盘文件1中存储的编译结果的信息,提取出电路元件及电路互连表;磁盘文件2存储提取出的电路元件及电路互连表的信息;将磁盘文件2中存储的提取出电路元件及电路互连表的信息,输出电路原理图的表格;将上述磁盘文件2中存储的提取出电路元件及电路互连表的信息,绘制电路原理图,输出直观的电路原理图。本发明通用性强,易直观,数据结构合理,有较强的实用性,使用简便,所以易于推广使用。
-
公开(公告)号:CN1392659A
公开(公告)日:2003-01-22
申请号:CN02136344.7
申请日:2002-08-01
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种直流-直流变换集成电路,对升压变换或降压变换分别采用P沟道或N沟道功率开关管,根据控制信号来关断/导通输入电压,由比较器将反馈输出电压所得到的被比较电压与基准电位进行比较,PWM型振荡器对功率开关管提供脉冲宽度可调的开关时钟,PFM型控制器的输入为振荡器和比较器的输出,其输出为所述控制信号,采用可修调的反馈分压电阻电路,以解决因工艺离差所引起的产品性能不稳定问题,并减小输出电压的纹波。本发明将传统的PFM工作方式变换器和PWM工作方式变换器结合了起来,在性能上兼具了二者的优点,简单可靠,易于集成,为电路的优化设计提供了空间,并因此提高了芯片的工作效率。
-
公开(公告)号:CN1521829A
公开(公告)日:2004-08-18
申请号:CN03115243.0
申请日:2003-01-29
Applicant: 上海芯华微电子有限公司 , 同济大学 , 上海交通大学
Abstract: 本发明涉及一种集成电路的拓扑验证方法,包括:用户命令输入;建立逻辑关系表,根据命令建立逻辑关系表;执行单个命令;将执行结果填入逻辑表,把上述含有逻辑关系的单个命令所得的结果填入逻辑表;进行逻辑运算;得出拓扑验证的结果,打印输出。本发明具有实用性,集成电路的拓扑验证技术对集成电路设计中碰到的漏线、漏引线孔、悬浮子电路等这些设计中的实际问题,均能查找出来,以保证集成电路设计的正确性;周密性,集成电路的拓扑验证技术凡在集成电路设计中遇到的有关电原理图查验的各种实际情况,都考虑到了;简便性,集成电路的拓扑验证技术在算法上充分体现了简便性这一原则。
-
公开(公告)号:CN1521830A
公开(公告)日:2004-08-18
申请号:CN03115350.X
申请日:2003-02-12
Applicant: 上海芯华微电子有限公司 , 上海交通大学 , 同济大学
Abstract: 本发明涉及一种集成电路设计、验证及测试一体化的技术方法,集成电路设计、验证与测试一体化的技术方法为一个计算机控制的总体系统,包括:自动设计技术子系统,提出从设计输入至版图设计各环节的技术要点;验证技术子系统,提出从电学连接关系验证至几何设计规则检查,验证各技术要点;测试技术子系统。提出测试生存和故障模拟的要点。最后提出以统一数据库为核心,以统一数据格式为纽带,把三个子系统融合在整体系统中的技术要点。本发明以数据库为核心,程序运行的各种中间结果可由统一的数据格式来描述,使集成电路的设计、验证和测试可在同一个系统中完成,从而提高了集成电路设计正确性和使用效率。
-
公开(公告)号:CN1167183C
公开(公告)日:2004-09-15
申请号:CN02136344.7
申请日:2002-08-01
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种直流-直流变换集成电路,对升压变换或降压变换分别采用P沟道或N沟道功率开关管,根据控制信号来关断/导通输入电压,由比较器将反馈输出电压所得到的被比较电压与基准电位进行比较,PWM型振荡器对功率开关管提供脉冲宽度可调的开关时钟,PFM型控制器的输入为振荡器和比较器的输出,其输出为所述控制信号,采用可修调的反馈分压电阻电路,以解决因工艺离差所引起的产品性能不稳定问题,并减小输出电压的纹波。本发明将传统的PFM工作方式变换器和PWM工作方式变换器结合了起来,在性能上兼具了二者的优点,简单可靠,易于集成,为电路的优化设计提供了空间,并因此提高了芯片的工作效率。
-
公开(公告)号:CN1523660A
公开(公告)日:2004-08-25
申请号:CN03115431.X
申请日:2003-02-17
Applicant: 上海芯华微电子有限公司 , 上海交通大学 , 同济大学
Abstract: 本发明提出一种集成电路设计的双向技术系统,是集成电路的逆向分析和正向设计相互融合的系统。在集成电路发展到目前的超大规模阶段,经常需要对市场上现成的芯片进行分析,需要一种集成电路分析仪,本发明的第一部分逆向分析技术就是解决这一问题。另一方面,集成电路正向设计技术则是根据用户的需要来规范化地设计芯片,从逻辑描述开始直至完成版图设计。在集成电路设计的逆向分析和正向设计的两个过程中,有些环节具有互补性、兼容性和双向性。本发明把逆向分析技术和正向设计技术两方面的发明相互融合为统一的系统,既可进行逆向分析,又可从事正向设计。
-
-
-
-
-