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公开(公告)号：CN1932458A
公开(公告)日：2007-03-21
申请号：CN200610116623.0
申请日：2006-09-28
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01J9/00
Abstract: 一种激光波长的光波导测量方法，属于精密测量技术领域。本发明将激光入射到棱镜上，并到达棱镜的底面，当满足耦合条件时，光进入由棱镜、沉积在棱镜上的金属膜、空气隙、沉积在光学玻璃上的金属薄膜构成的泄漏型双面金属包覆波导中，耦合效率对光波长的变化极为敏感，从棱镜底面反射的光强度对波长的变化也极为敏感。通过检测反射光强度的变化量，来检测激光器输出波长的变化。与现有技术相比，本发明可以广泛地应用于密集波分复用系统中的波长分辨、激光器输出波长的漂移抑制。本发明可以实现高分辨率、快速的实时检测，并且检测方法也十分简单。
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公开(公告)号：CN100523748C
公开(公告)日：2009-08-05
申请号：CN200610116623.0
申请日：2006-09-28
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01J9/00
Abstract: 一种激光波长的光波导测量方法，属于精密测量技术领域。本发明将激光入射到棱镜上，并到达棱镜的底面，当满足耦合条件时，光进入由棱镜、沉积在棱镜上的金属膜、空气隙、沉积在光学玻璃上的金属薄膜构成的泄漏型双面金属包覆波导中，耦合效率对光波长的变化极为敏感，从棱镜底面反射的光强度对波长的变化也极为敏感。通过检测反射光强度的变化量，来检测激光器输出波长的变化。与现有技术相比，本发明可以广泛地应用于密集波分复用系统中的波长分辨、激光器输出波长的漂移抑制。本发明可以实现高分辨率、快速的实时检测，并且检测方法也十分简单。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1645040A
公开(公告)日：2005-07-27
申请号：CN200510023455.6
申请日：2005-01-20
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种微位移的平面光波导测量装置，属于精密仪器领域。本发明光波导微位移传感器固定在光学旋转平台上，光电探测部分包括：激光器、偏振器、光学小孔、光电探测器，激光器、偏振器，光学小孔固定在光学旋转平台外，它们保持等高共轴，光轴指向光波导微位移传感器的中心，光电探测器、激光器关于光波导微位移传感器的中心轴对称，同时光电探测部分的光电探测器固定在光学旋转平台上。本发明可以广泛应用于大坝、建筑物、地壳的微位移测量，可以实现高灵敏度、快速实时的测量，同时保证仪器具有制造工艺简单、易于实现、小型化等特点。
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公开(公告)号：CN1278124C
公开(公告)日：2006-10-04
申请号：CN200410052606.6
申请日：2004-07-08
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01P15/03
Abstract: 一种用于精密仪器和精密测量领域的平面光波导的微重力加速度传感器及测量方法，传感器中的探测质量块通过悬臂梁同外框架固定，外层金属膜沉积在光学玻璃板上，光学玻璃板通过螺丝固定在外框架侧面，内层金属膜沉积在探测质量块上，外层金属膜背向内层金属膜，并且中间保持有空气隙。测量方法为：将激光器发射的激光入射到光学玻璃板上的外层金属膜，当满足耦合条件后，光耦合进入由外层金属膜、光学玻璃板、空气隙、内层金属膜构成的光波导结构中，从外层金属膜与空气分界面上反射的光强随着探测质量块与外层金属膜的间距改变而变化，通过检测反射光强度的变化量，来测量探测质量块相对光学玻璃板位置的改变，从而实时测得加速度的大小。
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公开(公告)号：CN1645039A
公开(公告)日：2005-07-27
申请号：CN200510023454.1
申请日：2005-01-20
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种微位移的平面光波导测量方法，将激光器发射的激光入射到棱镜，当满足耦合条件后，光进入由沉积在棱镜上的金属膜、空气隙、沉积在光学玻璃片上的金属膜构成的双面金属包覆波导中，利用反射光随空气隙即空气导波层厚度的改变而变化极为敏感的特性，从棱镜底面反射的光强随着光学玻璃片与棱镜的间距改变而变化，通过检测反射光强度的变化量，来测量光学玻璃片相对与棱镜位置的改变，从而得到待测物体位移大小。与现有技术相比，本发明可以广泛应用于大坝、建筑物、地壳的微位移测量。本发明可以实现高灵敏度、快速的实时测量，并且测量方法非常简单。
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公开(公告)号：CN1588094A
公开(公告)日：2005-03-02
申请号：CN200410052606.6
申请日：2004-07-08
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01P15/03
Abstract: 一种用于精密仪器和精密测量领域的平面光波导的微重力加速度传感器及测量方法，传感器中的探测质量块通过悬臂梁同外框架固定，外层金属膜沉积在光学玻璃板上，光学玻璃板通过螺丝固定在外框架侧面，内层金属膜沉积在探测质量块上，外层金属膜背向内层金属膜，并且中间保持有空气隙。测量方法为：将激光器发射的激光入射到光学玻璃板上的外层金属膜，当满足耦合条件后，光耦合进入由外层金属膜、光学玻璃板、空气隙、内层金属膜构成的光波导结构中，从外层金属膜与空气分界面上反射的光强随着探测质量块与外层金属膜的间距改变而变化，通过检测反射光强度的变化量，来测量探测质量相对光学玻璃板位置的改变，从而实时测得加速度的大小。
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公开(公告)号：CN1256566C
公开(公告)日：2006-05-17
申请号：CN200510023454.1
申请日：2005-01-20
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 一种微位移的平面光波导测量方法，将激光器发射的激光入射到棱镜，当满足耦合条件后，光进入由沉积在棱镜上的金属膜、空气隙、沉积在光学玻璃片上的金属膜构成的双面金属包覆波导中，利用反射光随空气隙即空气导波层厚度的改变而变化极为敏感的特性，从棱镜底面反射的光强随着光学玻璃片与棱镜的间距改变而变化，通过检测反射光强度的变化量，来测量光学玻璃片相对与棱镜位置的改变，从而得到待测物体位移大小。与现有技术相比，本发明可以广泛应用于大坝、建筑物、地壳的微位移测量。本发明可以实现高灵敏度、快速的实时测量，并且测量方法非常简单。
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