硅片振动特性测试系统及方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116818243A

    公开(公告)日:2023-09-29

    申请号:CN202310769893.5

    申请日:2023-06-27

    Inventor: 于国丰 张执南

    Abstract: 本发明提供一种硅片振动特性测试系统及方法,包括:激振模块:生成连续性扫频或定频激振信号,所述激振信号经放大后输出激振声波;硅片和硅片支架,所述硅片通过硅片支架固定支撑,硅片在所述激振声波的激励下发生振动,同时借助测量模块实现硅片振动测量;测量模块:采集硅片的振动信号,经过模拟数字转换,将数字化的振动信号进行数据分析、图形化、存储和调用。本发明能以非接触的方式对太阳能硅片全表面进行连续性激振,实现振动信号的非接触式采集,以及振动信号的存储、分析、图形化和调用功能,具有一键式操作的测量方便性、复刻太阳能电池量产中硅片受力状态的测量准确性。

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