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公开(公告)号:CN113677822A
公开(公告)日:2021-11-19
申请号:CN202080023096.7
申请日:2020-03-11
Applicant: 三菱综合材料株式会社
Abstract: 一种溅射靶,其含有Ge、Sb及Te,该溅射靶中,C含量在0.2原子%以上且10原子%以下的范围内,并且氧含量以质量比计为1000ppm以下,在Ge‑Sb‑Te相(11)中分散有碳粒子(12),碳粒子(12)的平均粒径在超过0.5μm且5.0μm以下的范围内。
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公开(公告)号:CN113166922A
公开(公告)日:2021-07-23
申请号:CN201980077161.1
申请日:2019-12-05
Applicant: 三菱综合材料株式会社
IPC: C23C14/14 , C22C5/06 , C23C14/34 , G02F1/1335 , G02F1/1343 , C22F1/00 , C22F1/14
Abstract: 本发明以0.10原子%以上且5.00原子%以下的范围含有Cu,并且Pd的含量为40质量ppm以下、Pt的含量为20质量ppm以下、Au的含量为20质量ppm以下、Rh的含量为10质量ppm以下、且Pd、Pt、Au及Rh的总含量为50质量ppm以下,剩余部分由Ag与不可避免杂质构成。
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公开(公告)号:CN112739847A
公开(公告)日:2021-04-30
申请号:CN201980061500.7
申请日:2019-11-20
Applicant: 三菱综合材料株式会社
Abstract: 本发明的溅射靶含有Ge、Sb及Te,并具有氧浓度高的高氧区域(11)和氧浓度低于该高氧区域(11)的低氧区域(12),且具有低氧区域(12)在高氧区域(11)的基质内以岛状分散的组织。在溅射靶中,直径0.5μm以上且5.0μm以下的空隙也可以以平均密度计在0.12mm2的范围内存在两个以上且十个以下的范围内。
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公开(公告)号:CN114761608A
公开(公告)日:2022-07-15
申请号:CN202080082938.6
申请日:2020-11-26
Applicant: 三菱综合材料株式会社
Abstract: 该Ag合金膜由包含In及Ge的Ag合金构成,在表面侧具有浓集有In及Ge的InGe浓集部。所述Ag合金优选含有0.1质量%以上且1.5质量%以下的In和0.1质量%以上且7.5质量%以下的Ge,并且剩余部分由Ag及不可避免的杂质构成。
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公开(公告)号:CN114761609A
公开(公告)日:2022-07-15
申请号:CN202080083116.X
申请日:2020-11-27
Applicant: 三菱综合材料株式会社
Abstract: 该Ag合金溅射靶的特征在于,由如下组成的Ag合金构成:含有Ge、In及S且剩余部分为Ag及不可避免的杂质,所述Ag合金中的S的含量为1质量ppm以上且150质量ppm以下。所述Ag合金优选在0.1质量%以上且1.5质量%以下的范围内包含In、在0.1质量%以上且7.5质量%以下的范围内包含Ge。
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公开(公告)号:CN113227444A
公开(公告)日:2021-08-06
申请号:CN201980085376.8
申请日:2019-10-01
Applicant: 三菱综合材料株式会社
IPC: C23C14/34
Abstract: 本发明的溅射靶的特征在于,包含75mol%以上的由Ge、Sb及Te构成的金属互化物,所述金属互化物的微晶直径为以上且以下。本发明的溅射靶也可以包含选自B、C、In、Ag、Si、Sn及S中的一种以上的添加元素,所述添加元素的合计含量为25mol%以下。
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公开(公告)号:CN113166921A
公开(公告)日:2021-07-23
申请号:CN201980076856.8
申请日:2019-12-05
Applicant: 三菱综合材料株式会社
IPC: C23C14/14 , C22C5/06 , C23C14/34 , G02F1/1335 , G02F1/1343 , C22F1/00 , C22F1/14
Abstract: 本发明以0.05原子%以上且5.00原子%以下的范围含有In,并且Pd的含量为40质量ppm以下、Pt的含量为20质量ppm以下、Au的含量为20质量ppm以下、Rh的含量为10质量ppm以下、且Pd、Pt、Au及Rh的总含量为50质量ppm以下,剩余部分由Ag与不可避免杂质构成。
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公开(公告)号:CN111587300A
公开(公告)日:2020-08-25
申请号:CN201980007189.8
申请日:2019-02-19
Applicant: 三菱综合材料株式会社
Abstract: 本发明的Ag合金溅射靶的特征在于,具有如下组成:在合计0.1质量%以上且1.5质量%以下的范围内包含In及Sn中的至少一种以上,且剩余部分为Ag及不可避免的杂质,在Ar气体压力0.1Pa、电流密度1.5W/cm2、累计电量0.01kWh/cm2的条件下实施溅射后的靶溅射面的算术平均表面粗糙度Ra设为7μm以下。
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