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公开(公告)号：CN107479527B
公开(公告)日：2019-11-01
申请号：CN201710403310.1
申请日：2017-06-01
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明提供一种劣化诊断装置。当在相同元器件中存在个体差异、在元器件间劣化速度存在差异的元器件、或在自身的芯片内不具有EEPROM等非易失性存储器的元器件混在一起时，不存在能恰当地对因历时变化等引起的劣化状态进行诊断的劣化诊断装置，因此，对于低精度或历时老化程度严重、且不具有校正功能的电子元器件(5a)，将用于对其精度、性能劣化进行评价、校正的工作原理(方法)制作入劣化诊断装置(100)，并在产品出货后的产品使用时，使用所制作的劣化判定单元来对劣化状态进行诊断。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108008754A
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201710984483.7
申请日：2017-10-20
Applicant: 三菱电机株式会社
Inventor： 矢内隆之
IPC: G05F1/56
Abstract: 本发明提供一种与应用元器件的个体偏差变动、及环境温度、电源电压等环境变动相对应，以低成本进行高精度的电流控制的供电控制装置。在将与多个感应性负载(104i)分别串联连接的驱动开关元件(45i)集成化后的第二集成电路元件(400A)的数据储存器(422)中，储存与成为特性变动主要原因的介质变量相对应的校正系数，协动的第一集成电路元件(200A)读取该介质变量的当前值，并与所述校正系数组合，来抑制伴随着电路元器件的个体偏差变动和环境温度变动的电流控制误差。校正系数在单个的第二集成电路元件(400A)的状态下由调整工具进行计算，因此能简单地生成多个温度环境下的校正数据。
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公开(公告)号：CN107819562B
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN201710357887.3
申请日：2017-05-19
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H04L7/00
Abstract: 若数据接收装置从数据发送装置所接收的数据有效信号与数据及时钟之间的延迟量之差较大，则无法正常接收数据。数据发送装置(100)包括：将表示发送数据的头部的预先定义的代码模式作为判断代码来进行多次发送的判断代码产生部(103J)；将不同于判断代码的预先定义的代码模式的起始代码接在判断代码之后至少进行1次发送的起始代码产生部(103S)；以及将有效数据接在起始代码之后进行发送的有效数据产生部(103Y)，数据接收装置(200)在接收到比所发送的要少1次以上的确定次数的判断代码之后成为起始代码待机状态，在接收到起始代码之后对有效数据进行接收。
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公开(公告)号：CN108008754B
公开(公告)日：2020-01-24
申请号：CN201710984483.7
申请日：2017-10-20
Applicant: 三菱电机株式会社
Inventor： 矢内隆之
IPC: G05F1/56
Abstract: 本发明提供一种与应用元器件的个体偏差变动、及环境温度、电源电压等环境变动相对应，以低成本进行高精度的电流控制的供电控制装置。在将与多个感应性负载(104i)分别串联连接的驱动开关元件(45i)集成化后的第二集成电路元件(400A)的数据储存器(422)中，储存与成为特性变动主要原因的介质变量相对应的校正系数，协动的第一集成电路元件(200A)读取该介质变量的当前值，并与所述校正系数组合，来抑制伴随着电路元器件的个体偏差变动和环境温度变动的电流控制误差。校正系数在单个的第二集成电路元件(400A)的状态下由调整工具进行计算，因此能简单地生成多个温度环境下的校正数据。
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公开(公告)号：CN107819562A
公开(公告)日：2018-03-20
申请号：CN201710357887.3
申请日：2017-05-19
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H04L7/00
Abstract: 若数据接收装置从数据发送装置所接收的数据有效信号与数据及时钟之间的延迟量之差较大，则无法正常接收数据。数据发送装置(100)包括：将表示发送数据的头部的预先定义的代码模式作为判断代码来进行多次发送的判断代码产生部(103J)；将不同于判断代码的预先定义的代码模式的起始代码接在判断代码之后至少进行1次发送的起始代码产生部(103S)；以及将有效数据接在起始代码之后进行发送的有效数据产生部(103Y)，数据接收装置(200)在接收到比所发送的要少1次以上的确定次数的判断代码之后成为起始代码待机状态，在接收到起始代码之后对有效数据进行接收。
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公开(公告)号：CN107479527A
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201710403310.1
申请日：2017-06-01
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明提供一种劣化诊断装置。当在相同元器件中存在个体差异、在元器件间劣化速度存在差异的元器件、或在自身的芯片内不具有EEPROM等非易失性存储器的元器件混在一起时，不存在能恰当地对因历时变化等引起的劣化状态进行诊断的劣化诊断装置，因此，对于低精度或历时老化程度严重、且不具有校正功能的电子元器件(5a)，将用于对其精度、性能劣化进行评价、校正的工作原理(方法)制作入劣化诊断装置(100)，并在产品出货后的产品使用时，使用所制作的劣化判定单元来对劣化状态进行诊断。
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