动态半导体存储装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1042792A

    公开(公告)日:1990-06-06

    申请号:CN89108132.1

    申请日:1989-10-20

    Abstract: 一种动态半导体存储装置,它包括产生指示测试模式的信号的装置、选出规定数量存储器单元的装置、向选出的单元中写入数据的写入装置,从上述单元中读出数据的读出装置和输出对应于读出装置的输出数据的逻辑值的输出装置。上述写入装置在至少一个选中单元中写入将写入数据反转后的数据,而读出装置则从该单元反转读出数据,其余选中单元的数据写入与读出照常。这样能更准确地测出存储器单元的故障。

    动态半导体存储装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1014659B

    公开(公告)日:1991-11-06

    申请号:CN89108132.1

    申请日:1989-10-20

    Abstract: 一种动态半导体存储装置,它包括产生指示测试模式的信号的装置、选出规定数量存储器单元的装置、向选出的单元中写入数据的写入装置,从上述单元中读出数据的读出装置和输出对应于读出装置的输出数据的逻辑值的输出装置。上述写入装置在至少一个选中单元中写入将写入数据反转后的数据,而读出装置则从该单元反转读出数据,其余选中单元的数据写入与读出照常,这样能更准确地测出存储器单元的故障。

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