-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102855893A
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201210227119.3
申请日：2012-06-29
Applicant: 三洋电机株式会社 , 三洋光学设计株式会社
CPC classification number: G11B7/0943 , G11B7/0901 , G11B7/0909 , G11B7/131 , G11B7/133 , G11B7/1353 , G11B7/1378 , G11B7/1381 , G11B2007/0006 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明提供一种能够顺利地抑制杂散光所带来的影响、且将成本抑制得较低的光拾取装置。通过对穿过光束区域f1~f4的激光的前进方向赋予矢量V21~V24来改变其前进方向。矢量V21、V22的方向相同，矢量V23、V24的方向相同。矢量V21的大小大于矢量V22的大小，矢量V24的大小大于矢量V23的大小。这样，能够利用配置于矩形的信号光区域1、2的传感器得到仅基于穿过光束区域f1~f4的激光(信号光)的检测信号。另外，为了赋予矢量V21~V24，能够使用由廉价的台阶型衍射图案构成的分光元件，因此能够将光拾取装置所耗费的成本抑制得较低。
-
公开(公告)号：CN102855894A
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201210226771.3
申请日：2012-06-29
Applicant: 三洋电机株式会社 , 三洋光学设计株式会社
IPC: G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B7/09
Abstract: 提供能够顺利地抑制杂散光漏入传感器且能够将分光元件配置于适当的位置的光拾取装置以及分光元件的位置调整方法。通过分光元件的左右的衍射区域得到的BD光的+1级衍射光照射到照射区域A11、A12。通过分光元件的上下的衍射区域得到的BD光的+1级衍射光照射到照射区域A13、A14。通过分光元件的中央的衍射区域得到的BD光(信号光)的+1级衍射光照射到照射区域A15。能够利用传感器Ba1～Ba4、Bs1～Bs4获取仅基于信号光的检测信号。4分割传感器Bz配置成倾斜45度。根据4分割传感器Bz的传感器Bz1～Bz4的检测信号调整分光元件在Z轴方向上的位置和分光元件在以中心O为中心的旋转方向上的位置。
-
公开(公告)号：CN102347036A
公开(公告)日：2012-02-08
申请号：CN201110157479.6
申请日：2011-05-31
Applicant: 三洋电机株式会社
CPC classification number: G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B7/1374 , G11B7/1378 , G11B2007/0006 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明提供一种能够平稳地抑制杂散光的影响、并且使记录层的辨别变得容易的光拾取装置。分光元件(118)具有衍射区域(118a～118l)。分光元件(118)按照衍射区域(118a～118d)的衍射角度大于衍射区域(118e～118l)的衍射角度的方式构成。对在光检测器(120)的受光面上所配置的传感器部(B1～B8)，仅照射通过衍射区域(118a～118d)的BD光的信号光。通过衍射区域(118e～118l)的BD光的信号光、以及通过分光元件(118)的BD光的杂散光(1、2)，被照射于传感器部(B1～B8)的外侧。由此，在具有多个记录层的盘中，各记录层的辨别变得容易。另外，由于适当形成有各记录层的S形曲线，因此能够相对于目标记录层使激光光的焦点位置迅速地对焦。
-
公开(公告)号：CN102347035A
公开(公告)日：2012-02-08
申请号：CN201110157470.5
申请日：2011-05-31
Applicant: 三洋电机株式会社
IPC: G11B7/09 , G11B7/12 , G11B7/0065 , G11B20/10
CPC classification number: G11B7/1378 , G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B7/1374 , G11B2007/0006 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明提供一种能够平稳地抑制杂散光的影响、并且能够抑制由传感器的位置偏移引起的检测信号劣化的光拾取装置。分光元件(118)具有衍射区域(118a0～118h0、118a1～118h1)。配置于光检测器(120)的受光面上的传感器部(B1～B8)中，仅照射有通过衍射区域(118a0～118h0)的BD光的信号光。通过衍射区域(118a1～118h1)的BD光的信号光、以及通过分光元件(118)的BD光的杂散光(1、2)，被照射于传感器部(B 1～B8)的外侧。由此，在BD光的信号光上就难以重叠杂散光(1、2)，因此基于BD光的信号光的传感器部(B1～B8)的输出信号的精度得到提高。另外，即使在传感器部(B1～B8)发生位置偏移，传感器部(B1～B8)的输出信号的精度也能够被维持为较高水平。
-
公开(公告)号：CN102314901A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201110148850.2
申请日：2011-06-03
Applicant: 三洋电机株式会社
CPC classification number: G11B7/1353 , G11B7/131 , G11B7/1374 , G11B7/1378 , G11B2007/0006 , G11B2007/0013
Abstract: 一种能在使用基于三光束方式的现有技术的同时顺利抑制杂散光所产生的影响，并且能将光检测器的结构简化的互换型的光拾取装置。在由分光元件(118)在光检测器(120)上生成的信号光区域中，配置BD用的传感器群(B1～B8)。在未被衍射而透过了分光元件的CD光的主光束和两个子光束的零次衍射光所照射的位置上，配置CD用的传感器群(C01～C04、C11～C14、C21～C24)。CD用的传感器群包含接收CD光的主光束的4分割传感器(C01～C04)，该4分割传感器配置于被BD用的传感器群所包围的区域。未被衍射而透过了所述分光元件的BD光的零次衍射光在与CD光的主光束的光轴匹配的状态下照射于4分割传感器。
-
-
-
-
Search Results
5
records
(took 0.02 seconds)
