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公开(公告)号：CN103035265A
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201210378149.4
申请日：2012-10-08
Applicant: 三洋电机株式会社 , 三洋光学设计株式会社
Inventor： 尾形正人
IPC: G11B7/1374 , G11B7/127
Abstract: 在顺利抑制杂散光漏入传感器且即使传感器的位置偏移也可抑制检测信号的精确度劣化的光拾取装置中，未经分光元件衍射而直线前进的BD光(信号光和杂散光)的0级衍射光照射到4分割传感器C1。通过与轨道像的方向垂直的方向上排列的分光元件的衍射区域衍射的BD光(信号光)的+1级衍射光照射到传感器Ba1~Ba4。通过轨道像的方向上排列的分光元件的衍射区域衍射的BD光(信号光)的+1级衍射光照射到传感器Bs1~Bs4。照射区域A11~A18不与传感器Ba1~Ba4、Bs1~Bs4的边界线重叠，分布在对应传感器的中央附近。即使传感器Ba1~Ba4、Bs1~Bs4在X轴、Y轴方向上偏移也可抑制传感器的检测信号劣化。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102855893A
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201210227119.3
申请日：2012-06-29
Applicant: 三洋电机株式会社 , 三洋光学设计株式会社
CPC classification number: G11B7/0943 , G11B7/0901 , G11B7/0909 , G11B7/131 , G11B7/133 , G11B7/1353 , G11B7/1378 , G11B7/1381 , G11B2007/0006 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明提供一种能够顺利地抑制杂散光所带来的影响、且将成本抑制得较低的光拾取装置。通过对穿过光束区域f1~f4的激光的前进方向赋予矢量V21~V24来改变其前进方向。矢量V21、V22的方向相同，矢量V23、V24的方向相同。矢量V21的大小大于矢量V22的大小，矢量V24的大小大于矢量V23的大小。这样，能够利用配置于矩形的信号光区域1、2的传感器得到仅基于穿过光束区域f1~f4的激光(信号光)的检测信号。另外，为了赋予矢量V21~V24，能够使用由廉价的台阶型衍射图案构成的分光元件，因此能够将光拾取装置所耗费的成本抑制得较低。
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公开(公告)号：CN102136281A
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN201110026201.5
申请日：2011-01-24
Applicant: 三洋电机株式会社 , 三洋光学设计株式会社
CPC classification number: G11B7/13922 , G11B7/1374 , G11B7/22
Abstract: 本发明提供一种光拾取装置及其制造方法，光拾取装置的第一物镜与第二物镜被固定在同一透镜保持件上，以简单的方法能够确保作为光拾取装置可允许的性能的程度地进行彗差的校正。光拾取装置安装有第一物镜和第二物镜，其中，该第一物镜使第一激光聚焦在设置于光盘的信号记录层，并且被固定在透镜保持件上，利用支承线以能够向光盘的信号面方向以及光盘的径向方向变位的方式支承该透镜保持件，该第二物镜使第二激光聚焦在设置于光盘的信号记录层，并且被固定在上述透镜保持件上，以规定角度分别使第一物镜与第二物镜的基座面倾斜，使用简单的方法大致分为第一物镜的彗差产生方向与上述第二物镜的彗差产生方向，使方向一致而进行固定。
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公开(公告)号：CN103035263A
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201210378131.4
申请日：2012-10-08
Applicant: 三洋电机株式会社 , 三洋光学设计株式会社
Inventor： 尾形正人
IPC: G11B7/09 , G11B7/1374
Abstract: 提供能够顺利地抑制杂散光漏入传感器且获取稳定的聚焦误差信号的光拾取装置以及光盘装置。未经分光元件衍射而直线前进的BD光(信号光和杂散光)的0级衍射光照射到4分割传感器C1。通过在轨道像的方向上排列的分光元件的衍射区域衍射后的BD光(信号光)的+1级衍射光照射到传感器Bs1～Bs4。将使根据传感器Bs1～Bs4的检测信号生成的聚焦误差信号乘以规定的乘数后得到的信号与根据4分割传感器C1的检测信号生成的聚焦误差信号相加。这样得到的信号为不仅维持高信噪比而且将杂散光和沟槽信号的影响抑制得较低的良好且稳定的聚焦误差信号。
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公开(公告)号：CN102855894A
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201210226771.3
申请日：2012-06-29
Applicant: 三洋电机株式会社 , 三洋光学设计株式会社
IPC: G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B7/09
Abstract: 提供能够顺利地抑制杂散光漏入传感器且能够将分光元件配置于适当的位置的光拾取装置以及分光元件的位置调整方法。通过分光元件的左右的衍射区域得到的BD光的+1级衍射光照射到照射区域A11、A12。通过分光元件的上下的衍射区域得到的BD光的+1级衍射光照射到照射区域A13、A14。通过分光元件的中央的衍射区域得到的BD光(信号光)的+1级衍射光照射到照射区域A15。能够利用传感器Ba1～Ba4、Bs1～Bs4获取仅基于信号光的检测信号。4分割传感器Bz配置成倾斜45度。根据4分割传感器Bz的传感器Bz1～Bz4的检测信号调整分光元件在Z轴方向上的位置和分光元件在以中心O为中心的旋转方向上的位置。
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公开(公告)号：CN102163442A
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN201110042975.7
申请日：2011-02-22
Applicant: 三洋电机株式会社 , 三洋光学设计株式会社
CPC classification number: G11B7/22 , G11B7/1365 , G11B7/1381
Abstract: 本发明提供一种能够对从带有安装误差地配置的发光芯片发射的激光的光路适当地进行校正的光拾取装置及其制造方法。光拾取装置(30)具备：发射规定波长激光的第一发光芯片(20)和第二发光芯片(22)；PDIC(42)，其接收从这些发光芯片发射的激光；以及配置在两者之间的第一光学校正元件(11)和第二光学校正元件(13)。第一光学校正元件(11)和第二光学校正元件(13)通过对第一激光(25)进行衍射而使其倾斜，另一方面，不使第二激光(27)和第三激光(29)倾斜而直接透过。第一激光(25)在这两个校正元件上衍射，由此其光路被校正为规定的位置。
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