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公开(公告)号:CN112750685A
公开(公告)日:2021-05-04
申请号:CN202011180671.2
申请日:2020-10-29
IPC: H01L21/02 , H01L21/768 , H01L27/11556 , H01L27/12 , H01L29/06 , H01L29/423 , H01L29/78 , B82Y30/00
Abstract: 提供氮化硼层、包括其的装置及制造氮化硼层的方法。所述氮化硼层包括氮化硼化合物并且在100kHz的工作频率下具有约2.5或更小的介电常数。
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公开(公告)号:CN112442734A
公开(公告)日:2021-03-05
申请号:CN202010787644.5
申请日:2020-08-07
Abstract: 本公开涉及六方氮化硼、其制造方法及电子器件和半导体器件。在此公开了一种制造六方氮化硼的方法,其中六方氮化硼被外延地生长。一种制造六方氮化硼的方法包括:将催化金属放置在腔室中,该催化金属具有六方晶体结构并与腔室中的六方氮化硼(h‑BN)具有15%或更小的晶格失配;以及在将氮源和硼源供应到腔室中的同时,在800℃或更低的温度下在催化金属上生长六方氮化硼。
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公开(公告)号:CN112442734B
公开(公告)日:2025-04-18
申请号:CN202010787644.5
申请日:2020-08-07
Abstract: 本公开涉及六方氮化硼、其制造方法及电子器件和半导体器件。在此公开了一种制造六方氮化硼的方法,其中六方氮化硼被外延地生长。一种制造六方氮化硼的方法包括:将催化金属放置在腔室中,该催化金属具有六方晶体结构并与腔室中的六方氮化硼(h‑BN)具有15%或更小的晶格失配;以及在将氮源和硼源供应到腔室中的同时,在800℃或更低的温度下在催化金属上生长六方氮化硼。
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公开(公告)号:CN112750834A
公开(公告)日:2021-05-04
申请号:CN202011177930.6
申请日:2020-10-29
IPC: H01L27/108 , H01L21/02 , B82Y30/00
Abstract: 提供半导体存储器件和包括其的设备。所述半导体存储器件包括在半导体基板上在第一方向上延伸的字线;在与所述第一方向交叉的第二方向上跨越所述字线延伸的位线结构;在所述字线之间和在所述位线结构之间的接触垫结构;以及在所述位线结构和所述接触垫结构之间的间隔物。所述间隔物包括氮化硼层。
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