公开(公告)号：CN103247347A

公开(公告)日：2013-08-14

申请号：CN201310051401.5

申请日：2013-02-16

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： A.E.昂

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C13/0002

Abstract: 一种智能存储器系统优选地包括包含一个或者多个存储器芯片的存储器以及包含一个或者多个存储器处理器芯片的处理器。处理器可以包括公共的地址/数据/控制存储器总线，其被配置成提供在存储器阵列和存储器处理器之间的异步握手接口。处理器可以从存储器芯片卸载错误数据以用于分析，并且可以在非易失性错误保持存储器中存储用于存储器刷新的较差保持位的地址信息。编程逻辑还可以被包括以用于存储器地址重新配置。功率管理逻辑也可以被包括，其可以具有处理电压温度补偿电压发生器，以用于提供稳定和恒定的读取电流。在存储器阵列和存储器处理器之间提供异步握手接口。还可以包括写入错误标记和写入验证电路。

公开(公告)号：CN103971726A

公开(公告)日：2014-08-06

申请号：CN201410042855.0

申请日：2014-01-29

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： A.E.昂 ,  V.尼基廷 ,  M.T.克朗比

IPC: G11C11/16

CPC classification number: G11C11/1673 ,  G11C11/161 ,  G11C11/1655 ,  G11C11/1659 ,  G11C11/1675 ,  H01L27/228 ,  H01L43/02 ,  H01L43/08 ,  H01L43/12

Abstract: 本发明涉及电压辅助的自旋转移力矩磁随机存取存储器写方案。实施例包括用于半导体存储器件的三端头磁元件。所述磁元件包括：参考层；自由层；布置在所述参考层与所述自由层之间的阻挡层；第一电极；布置在所述电极与所述自由层之间的绝缘层；以及耦接到所述自由层的侧壁的第二电极。

公开(公告)号：CN103971726B

公开(公告)日：2018-02-09

申请号：CN201410042855.0

申请日：2014-01-29

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： A.E.昂 ,  V.尼基廷 ,  M.T.克朗比

IPC: G11C11/16

CPC classification number: G11C11/1673 ,  G11C11/161 ,  G11C11/1655 ,  G11C11/1659 ,  G11C11/1675 ,  H01L27/228 ,  H01L43/02 ,  H01L43/08 ,  H01L43/12

Abstract: 本发明涉及电压辅助的自旋转移力矩磁随机存取存储器写方案。实施例包括用于半导体存储器件的三端头磁元件。所述磁元件包括：参考层；自由层；布置在所述参考层与所述自由层之间的阻挡层；第一电极；布置在所述电极与所述自由层之间的绝缘层；以及耦接到所述自由层的侧壁的第二电极。

公开(公告)号：CN103247347B

公开(公告)日：2017-07-25

申请号：CN201310051401.5

申请日：2013-02-16

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： A.E.昂

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C13/0002

Abstract: 一种智能存储器系统优选地包括包含一个或者多个存储器芯片的存储器以及包含一个或者多个存储器处理器芯片的处理器。处理器可以包括公共的地址/数据/控制存储器总线，其被配置成提供在存储器阵列和存储器处理器之间的异步握手接口。处理器可以从存储器芯片卸载错误数据以用于分析，并且可以在非易失性错误保持存储器中存储用于存储器刷新的较差保持位的地址信息。编程逻辑还可以被包括以用于存储器地址重新配置。功率管理逻辑也可以被包括，其可以具有处理电压温度补偿电压发生器，以用于提供稳定和恒定的读取电流。在存储器阵列和存储器处理器之间提供异步握手接口。还可以包括写入错误标记和写入验证电路。

公开(公告)号：CN103258574A

公开(公告)日：2013-08-21

申请号：CN201310051106.X

申请日：2013-02-16

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： A.E.昂

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G06F15/167 ,  G06F3/0601 ,  G06F11/0751 ,  G06F11/0793 ,  G06F11/1008 ,  G06F11/1076 ,  G06F12/00 ,  G06F21/00 ,  G11C11/16 ,  G11C11/1677 ,  G11C11/1695 ,  G11C13/0002

Abstract: 本发明涉及用于远程存储系统诊断和优化的体系结构和方法，具体提供存储系统及用于执行远程存储器诊断和操作步骤的方法。智能存储系统包括包含一个或多个存储芯片和智能存储控制器的存储器。智能存储控制器包括被通信地耦接到云的发送器。发送器向云安全地发送与存储器相关联的产品标识（ID）。基于云的数据中心接收并存储与存储器相关联的所述产品ID和相关信息。智能存储测试器从基于云的数据中心接收产品专用测试程序。智能存储测试器根据产品专用测试程序经由云远程地测试所述存储器。通过被授权个人能够在世界上任何地方访问被存储在基于云的数据中心的信息。能够基于测试结果和诊断信息远程地确定修复方案。将修复方案发送到修复存储器的智能存储控制器。