半导体装置
    1.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN113745225A

    公开(公告)日:2021-12-03

    申请号:CN202110465554.9

    申请日:2021-04-28

    Abstract: 提供了半导体装置。所述半导体装置包括:下电极,位于基底上;电容器介电膜,在下电极上沿着下电极的与基底垂直的侧表面延伸;上电极,位于电容器介电膜上;界面层,包括位于上电极上的氢阻挡膜和氢旁路膜,氢旁路膜包括导电材料;以及接触插塞,穿透界面层,并且电连接到上电极。

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