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发明公开
非易失性存储器装置和存储装置审中-实审

公开(公告)号：CN115954035A

公开(公告)日：2023-04-11

申请号：CN202210876134.4

申请日：2022-07-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴奎河 , 金正悦 , 李娜利 , 金大汉

IPC: G11C16/34

Abstract: 公开了非易失性存储器装置和存储装置。所述非易失性存储器装置包括存储器单元阵列、行解码器电路、页缓冲器电路和通过/失败检查电路，行解码器电路选择一条字线作为编程操作的目标，页缓冲器电路存储将在编程操作中被写入与被选择的字线连接的存储器单元中的数据，通过/失败检查电路确定编程操作的通过或失败。在编程操作中，通过/失败检查电路检测第一存储器单元的第一编程速度和第二存储器单元的第二编程速度，并且基于第一编程速度和第二编程速度确定编程失败。

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