制造存储器装置的方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110890462A

    公开(公告)日:2020-03-17

    申请号:CN201910603772.7

    申请日:2019-07-05

    Abstract: 提供了一种制造存储器装置的方法,该方法包括:在基底上形成晶体管;形成覆盖晶体管的下层间绝缘层;在下层间绝缘层上形成氢供应层;在氢供应层上形成氢阻挡层;对晶体管、下层间绝缘层和氢供应层进行退火;在对晶体管、下层间绝缘层和氢供应层进行退火之后,在氢阻挡层上形成存储器单元;以及形成围绕存储器单元的上层间绝缘层。

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