保持一致性的光学邻近校正方法和使用其制造掩模的方法

    公开(公告)号:CN112668272A

    公开(公告)日:2021-04-16

    申请号:CN202010716289.2

    申请日:2020-07-23

    Abstract: 本申请公开了保持一致性的光学邻近校正方法和使用其制造掩模的方法。根据本申请,一种计算机可读介质包括程序代码,该程序代码在由处理电路运行时,使处理电路将半导体芯片的布局划分为多个片区,从多个片区中的每个的布局生成多个分段,其中多个片区中的第一片区包括第一分段并且多个片区中的第二片区包括第二分段,通过使用哈希函数计算分别与第一分段和第二分段相对应的哈希值,计算第一分段当中具有第一哈希值的分段的偏置值,基于偏置值计算代表值,以及将代表值应用于第一分段中具有第一哈希值的分段。

    检测触摸位置的方法、触摸位置检测装置以及显示装置

    公开(公告)号:CN102122219A

    公开(公告)日:2011-07-13

    申请号:CN201010611140.4

    申请日:2010-12-29

    Inventor: 金局炫

    CPC classification number: G06F3/0421 G06F2203/04109

    Abstract: 本发明公开了一种检测触摸位置的方法、执行所述方法的触摸位置检测装置以及具有该触摸位置检测装置的显示装置。在检测触摸位置的方法中,发射光。接收来自发射的光的多个光束。所述光束具有彼此不同的路径。所述光束根据触摸被部分地反射。基于接收的光束中的光的量来检测触摸位置。根据本发明,可以单独地检测几个触摸元件的触摸位置。

    保持一致性的光学邻近校正方法和使用其制造掩模的方法

    公开(公告)号:CN112668272B

    公开(公告)日:2024-12-06

    申请号:CN202010716289.2

    申请日:2020-07-23

    Abstract: 本申请公开了保持一致性的光学邻近校正方法和使用其制造掩模的方法。根据本申请,一种计算机可读介质包括程序代码,该程序代码在由处理电路运行时,使处理电路将半导体芯片的布局划分为多个片区,从多个片区中的每个的布局生成多个分段,其中多个片区中的第一片区包括第一分段并且多个片区中的第二片区包括第二分段,通过使用哈希函数计算分别与第一分段和第二分段相对应的哈希值,计算第一分段当中具有第一哈希值的分段的偏置值,基于偏置值计算代表值,以及将代表值应用于第一分段中具有第一哈希值的分段。

    触摸面板及触摸面板的触摸位置检测方法

    公开(公告)号:CN102193684A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN201110047448.5

    申请日:2011-02-28

    CPC classification number: G06F3/042

    Abstract: 本发明提供了一种触摸面板和触摸面板的触摸位置检测方法。该触摸面板包括:触摸单元;光源单元阵列,沿触摸单元的第一边缘设置,并包括第一光源和第二光源;检测单元阵列,沿触摸单元的面对第一边缘的第二边缘设置,并包括通过检测来自光源单元阵列的光产生检测信号的检测单元。第一光源照射具有第一光轴的光,第一光轴沿相对于参考方向成第一角的第一方向延伸,第二光源照射具有第二光轴的光,第二光轴沿相对于参考方向成第一角的第二方向延伸。参考方向垂直于第二边缘。

    触摸位置检测设备
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102193685A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN201110052190.8

    申请日:2011-03-04

    CPC classification number: G06F3/0416 G06F3/0428

    Abstract: 本发明公开了一种触摸位置检测设备,所述触摸位置检测设备包括:光波导,具有长方体形状并且被构造成将以比临界角大的角度到达的内部光全反射;发光部分,设置在光波导的角处,每个发光部分在一个周期内发光一次;第一光接收部分,沿光波导的第一侧表面设置,并且接收从靠近面对光波导的第一侧表面的第二侧表面的发光部分发射的光;第二光接收部分,沿光波导的第二侧表面设置,并且接收从靠近第一侧表面的发光部分发射的光;检测部分,基于由第一光接收部分和第二光接收部分接收的光的量来检测触摸位置。

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