半导体封装件
    2.
    发明公开
    半导体封装件 审中-实审

    公开(公告)号:CN115700909A

    公开(公告)日:2023-02-07

    申请号:CN202210860684.7

    申请日:2022-07-21

    Abstract: 本公开提供了一种能够提高性能和可靠性的半导体封装件。本公开的半导体封装件包括彼此电连接的第一装置和第二装置,第一装置包括衬底、形成在衬底的上侧的第一焊盘和形成在衬底的上侧并且形成为包围第一焊盘的钝化膜,第二装置包括布置为面对第一焊盘的第二焊盘,并且第一焊盘包括具有第一弹性模量的中心焊盘和具有小于第一弹性模量的第二弹性模量的边缘焊盘,边缘焊盘形成为包围中心焊盘并且接触钝化膜。

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