图像处理装置及其操作方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117396916A

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN202280037217.2

    申请日:2022-03-24

    Abstract: 一种用于对图像执行图像质量处理的图像处理设备,包括:存储器,被配置为存储一个或多个指令;以及处理器,被配置为执行存储在存储器中的所述一个或多个指令以进行以下操作:通过使用缩小网络对输入图像进行缩小来获得第一图像;通过使用特征提取网络来提取与第一图像对应的第一特征信息;通过使用图像质量处理网络,通过基于第一特征信息对第一图像执行图像质量处理来获得第二图像;以及通过使用放大网络,通过对第二图像进行放大、提取与输入图像对应的第二特征信息并且基于第二特征信息对放大的第二图像执行图像质量处理来获得输出图像。

    使用与图像质量相关的AI元数据的设备和方法

    公开(公告)号:CN114731455A

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN202080079098.8

    申请日:2020-11-18

    Abstract: 一种图像提供设备,被配置为通过使用第一人工智能(AI)网络生成包括类信息和至少一个类图的AI元数据,其中,类信息包括与包括在第一图像中的多个预定义对象中的对象的类型对应的至少一个类,并且所述至少一个类图指示与第一图像中的每个类对应的区域,通过对第一图像进行编码来生成编码图像,以及通过输出接口输出编码图像和AI元数据。

    图像处理设备及其操作方法

    公开(公告)号:CN113424203B

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202080013383.X

    申请日:2020-04-23

    Abstract: 提供了一种图像处理设备,包括:存储器,存储至少一个指令;以及处理器,被配置为执行存储在存储器中的所述至少一个指令以执行以下操作:通过对第一图像和多个卷积层中的第一卷积层中包括的第一内核执行卷积运算来获得第一特征信息;基于第一特征信息获得至少一条特性信息;基于第一特征信息和所述至少一条特性信息获得第二特征信息;通过对获得的第二特征信息和包括在第二卷积层中的第二内核执行卷积运算来获得第三特征信息,其中,第二卷积层是所述多个卷积层中的第一卷积层的下一层;以及基于第三特征信息获得输出图像。

    用于测量LED面板的设备、系统和控制方法

    公开(公告)号:CN116547703A

    公开(公告)日:2023-08-04

    申请号:CN202180075087.7

    申请日:2021-09-06

    Abstract: 公开了一种用于测量LED面板的设备、系统和控制方法。所述用于测量LED面板的方法包括以下步骤:捕捉以预设颜色显示的LED面板的图像;根据预定门限亮度值将来自捕捉的所述LED面板的图像的所述LED面板的每一个像素分类为具有不同尺寸的像素区域;通过使用分类的像素区域的数据和训练的人工智能模型来获得每一个像素的三刺激值;以及基于获得的三刺激值来获得每一个像素的亮度和色度。

    图像处理设备及其操作方法

    公开(公告)号:CN113424203A

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN202080013383.X

    申请日:2020-04-23

    Abstract: 提供了一种图像处理设备,包括:存储器,存储至少一个指令;以及处理器,被配置为执行存储在存储器中的所述至少一个指令以执行以下操作:通过对第一图像和多个卷积层中的第一卷积层中包括的第一内核执行卷积运算来获得第一特征信息;基于第一特征信息获得至少一条特性信息;基于第一特征信息和所述至少一条特性信息获得第二特征信息;通过对获得的第二特征信息和包括在第二卷积层中的第二内核执行卷积运算来获得第三特征信息,其中,第二卷积层是所述多个卷积层中的第一卷积层的下一层;以及基于第三特征信息获得输出图像。

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