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发明公开
数字下垂检测器、其校准方法及半导体装置审中-公开

公开(公告)号：CN117630721A

公开(公告)日：2024-03-01

申请号：CN202310597431.X

申请日：2023-05-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李相宪 , 申熙旭 , 李僖埈 , 李柾昊 , 曹永载 , 崔炳䝬

IPC: G01R31/40 , G01R19/00 , G01R35/00 , H03K5/125 , H03K5/13

Abstract: 提供了数字下垂检测器、其校准方法及半导体装置。所述数字下垂检测器可以包括：处理电路，所述处理电路被配置为：响应于时钟信号来检测电源电压的电压电平改变，所述检测所述电压电平改变包括将所检测到的电压电平改变转换成第一代码；校正所述第一代码中包括的至少一个非线性，所述校正包括将所述第一代码转换成第二代码和目标范围；以及基于所述第二代码来调整所述时钟信号的延迟幅度。

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