公开(公告)号：CN119993248A

公开(公告)日：2025-05-13

申请号：CN202411163766.1

申请日：2024-08-23

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴垣喜 ,  玄基昊

IPC: G11C29/44 ,  G11C29/56

Abstract: 提供了一种具有增强的列修复能力的存储器系统和存储器装置以及操作其的方法。所述存储器装置包括：存储器单元阵列，具有多个正常存储器单元和多个冗余存储器单元；熔丝阵列，存储有缺陷的第一存储器单元的地址和主位；以及列解码器，在与正常存储器单元相关联的多条列选择线和与冗余存储器单元相关联的多条备用列选择线之中进行选择。列解码器具有第一列修复电路，第一列修复电路包括第一锁存器阵列和第一比较逻辑，第一锁存器阵列具有存储有缺陷的第一存储器单元的列地址的多个锁存器元件；第一比较逻辑将所述多个锁存器元件的输出与外部列地址进行比较，并且响应于比较而生成指示是否修复有缺陷的第一存储器单元的第一启用信号。

公开(公告)号：CN118538281A

公开(公告)日：2024-08-23

申请号：CN202410192943.2

申请日：2024-02-21

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金泰元 ,  姜相熙 ,  玄基昊 ,  金泰润

IPC: G11C29/44 ,  G11C29/24

Abstract: 提供测试存储器装置的修复电路的方法和存储器装置。所述方法可包括：将第一地址存储在修复电路的第一寄存器中，其中，第一寄存器被配置为在存储器装置的正常操作期间存储故障地址，并且修复电路被配置为执行修复操作以用冗余地址替换故障地址；将测试地址存储在修复电路的第二寄存器中，其中，测试地址从测试主机提供；通过将存储在第一寄存器中的地址的位值与存储在第二寄存器中的地址的位值进行比较来输出命中信号；基于命中信号来输出修复使能信号；以及基于修复使能信号的逻辑电平来确定生成修复使能信号的路径的状态。