公开(公告)号：CN1758382A

公开(公告)日：2006-04-12

申请号：CN200510071654.4

申请日：2005-03-23

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金润哲 ,  李俊熙 ,  崔熙柱 ,  河桂元

IPC: G11C29/00

Abstract: 为了高效测试，存储器模块的每个存储器芯片测试来自X个存储区的总共N个数据位，并从存储区之一输出N/X个测试数据位。存储器模块包括多个存储器芯片和多个比较单元。每个比较单元被配置在各自的存储器芯片中，用来测试来自多个存储区的多个测试数据位。另外，每个比较单元从各自的存储器芯片中的存储区之一中输出测试数据位。

公开(公告)号：CN1758382B

公开(公告)日：2010-10-06

申请号：CN200510071654.4

申请日：2005-03-23

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金润哲 ,  李俊熙 ,  崔熙柱 ,  河桂元

IPC: G11C29/00

Abstract: 为了高效测试，存储器模块的每个存储器芯片测试来自X个存储区的总共N个数据位，并从存储区之一输出N/X个测试数据位。存储器模块包括多个存储器芯片和多个比较单元。每个比较单元被配置在各自的存储器芯片中，用来测试来自多个存储区的多个测试数据位。另外，每个比较单元从各自的存储器芯片中的存储区之一中输出测试数据位。

公开(公告)号：CN101145401A

公开(公告)日：2008-03-19

申请号：CN200710154238.X

申请日：2007-09-11

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 河桂元 ,  金东俊 ,  朴镇秀 ,  赵根秀

IPC: G11C29/14

CPC classification number: G11C7/1045 ,  G11C7/1051 ,  G11C7/1063 ,  G11C29/02 ,  G11C29/022

Abstract: 公开了半导体存储器件、具有半导体存储器件的存储系统和测试存储系统的方法。本发明的实施例包括半导体存储器件中的特征，其被配置为从存储器控制器接收命令信号并将至少部分所接收的命令信号选择性地输出回给所述存储器控制器以用于验证。本发明的实施例还提供用于验证命令信号从存储器控制器到半导体存储器件的正确通信的方法。本发明的实施例还提供用于测试半导体存储器件中的存储器单元的系统和方法。