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公开(公告)号:CN1521877A
公开(公告)日:2004-08-18
申请号:CN03147569.8
申请日:2003-07-24
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H01M4/926 , B01J20/20 , B01J20/28057 , B01J20/2808 , B01J20/30 , B01J20/3057 , B01J21/18 , B01J23/42 , B01J37/0018 , B01J37/084 , C01B32/00 , H01M4/92
Abstract: 本发明提供一种制造具有增加微孔隙率碳分子筛的方法,一种制造具有增加微孔隙率和改进结构规律性的碳分子筛的方法;一种具有增加微孔隙率的碳分子筛;一种具有增加微孔隙率和改进结构规律性的碳分子筛;一种利用碳分子筛的燃料电池用催化剂,和利用该催化剂的燃料电池。
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公开(公告)号:CN101013723A
公开(公告)日:2007-08-08
申请号:CN200710006727.0
申请日:2007-02-02
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L29/49 , H01L21/336 , H01L21/283
CPC classification number: H01L29/4966 , H01L21/28088 , H01L21/28194 , H01L29/517 , H01L29/78
Abstract: 本发明提供半导体器件,具有多个堆叠的金属层。该半导体器件包括:衬底;在该衬底上沉积且由高k电介质材料形成的栅极氧化物层;在该栅极氧化物层上沉积且由该栅极氧化物层的高k电介质材料的金属的氮化物形成的第一金属层;在该第一金属层上沉积的第二金属层;在该第二金属层上沉积的第三金属层;及在该第三金属层上沉积的材料层,其中该材料层与该第一、第二、和第三金属层一起形成栅极电极。因为该栅极氧化物层和该金属层之间的任何化学反应能够被控制,防止了电容等效氧化物的厚度的变坏和电流的泄漏,并且提供了具有改进的绝缘的半导体器件。
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