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公开(公告)号:CN110277133A
公开(公告)日:2019-09-24
申请号:CN201910031446.3
申请日:2019-01-14
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种用于存储装置的测试系统及其使用方法。所述用于存储装置的测试系统包括:腔室,所述腔室包括至少一个测试插座柱,所述至少一个测试插座柱具有沿第一方向布置的多个测试插座,其中,待测试的存储装置位于所述多个测试插座中的各个测试插座中;温度调节装置,所述温度调节装置被配置为根据温度控制信号将空气供应到所述腔室中以控制所述腔室的温度;测试设备,所述测试设备电连接到所述多个测试插座并且被配置为对所述存储装置进行测试;以及温度控制器,所述温度控制器被配置为从所述存储装置的温度传感器接收所述存储装置的温度信息,并将所述温度控制信号输出到所述温度调节装置,以补偿所述存储装置的检测温度与目标温度之间的温度差。
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公开(公告)号:CN103677115A
公开(公告)日:2014-03-26
申请号:CN201310341593.3
申请日:2013-08-07
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G06F1/1637 , G06F1/1615 , G06F1/162 , G06F1/1643 , G06F1/1679 , G06F1/1681 , G06F1/1683
Abstract: 一种便携式设备,包括:键盘单元;显示单元;连接单元,配置为连接至键盘单元和显示单元中的每一个,相对于键盘单元和显示单元中的每一个相对移动,并且支撑显示单元使得显示单元覆盖或不覆盖键盘单元;以及控制器,置于连接单元内部并且控制便携式设备的操作。
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公开(公告)号:CN110277133B
公开(公告)日:2024-06-11
申请号:CN201910031446.3
申请日:2019-01-14
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种用于存储装置的测试系统及其使用方法。所述用于存储装置的测试系统包括:腔室,所述腔室包括至少一个测试插座柱,所述至少一个测试插座柱具有沿第一方向布置的多个测试插座,其中,待测试的存储装置位于所述多个测试插座中的各个测试插座中;温度调节装置,所述温度调节装置被配置为根据温度控制信号将空气供应到所述腔室中以控制所述腔室的温度;测试设备,所述测试设备电连接到所述多个测试插座并且被配置为对所述存储装置进行测试;以及温度控制器,所述温度控制器被配置为从所述存储装置的温度传感器接收所述存储装置的温度信息,并将所述温度控制信号输出到所述温度调节装置,以补偿所述存储装置的检测温度与目标温度之间的温度差。
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